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激光粒度儀的技術(shù)發(fā)展包括光路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化

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更新時(shí)間：2023-11-12 10:38:37瀏覽次數(shù)：179次

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產(chǎn)品簡介

Twomey非線性迭代（NLI）方法通過納米粒度儀簡單算法已知

詳細(xì)介紹

Twomey非線性迭代（NLI）方法通過納米粒度儀簡單算法已知。然而，反演的性能很大程度上取決于NLI算法的參數(shù)。算法中的主要參數(shù)是初始大小分布，權(quán)重參數(shù)和迭代次數(shù)。在該研究中，我們通過激光衍射散射方法顯示初始參數(shù)的值如何影響算法中的尺寸分布的結(jié)果。進(jìn)行計(jì)算機(jī)模擬和實(shí)驗(yàn)方法，觀察算法中參數(shù)的影響。通過Mie散射模型在5.0×10 -4 -2.5rad的范圍內(nèi)計(jì)算散射圖案。實(shí)驗(yàn)結(jié)果測定了單分布聚苯乙烯乳膠（50μm）和聚合物分布玻璃珠（3-30μm，和10-100μm）。迭代次數(shù)是NLI算法中影響的參數(shù)。如果迭代次數(shù)太高而無法計(jì)算，則計(jì)算結(jié)果將失去平滑度。我們還引入了新的參數(shù)C（散射信號的殘差平方和和尺寸分布的二次微分之和的組合）來監(jiān)測NLI方法的合適停止標(biāo)準(zhǔn)。參數(shù)C是聚分散體樣品的有用指數(shù)，以找到合適的停止標(biāo)準(zhǔn)。

激光粒度儀是一種應(yīng)用廣泛的粒度測量儀器。本文介紹了激光粒度儀的測量原理,對激光粒度儀的技術(shù)發(fā)展包括光路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與優(yōu)化、探測器及其他方面的改進(jìn)作了概述。儀器的光學(xué)結(jié)構(gòu)對其性能具有決定性的影響,光學(xué)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化主要是為了擴(kuò)展儀器的測量下限;采用不同的探測器則可以保證儀器的高重現(xiàn)性和全量程的高分辨率。文章最后展望了激光粒度儀的發(fā)展方向。

關(guān)鍵詞：納米粒度儀激光粒度儀粒度儀

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