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更新時(shí)間：2024-02-21 14:40:06瀏覽次數(shù)：113次
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The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的**成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測(cè)試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker *的電容傳感技術(shù)，繼承了**市場(chǎng)的**批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺(tái)的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動(dòng)態(tài)測(cè)試和力學(xué)性能成像等功能。
Hysitron PI 89的緊湊設(shè)計(jì)允許*大的樣品臺(tái)傾斜，以及測(cè)試時(shí)成像的*小工作距離。PI 89為研究者提供了比競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：
Hysitron PI 89利用布魯克的亞納米尺度傳感器和壓電力驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)真正的位移控制和載荷控制測(cè)試：
Hysitron PI 89獲得的原位力學(xué)測(cè)試結(jié)果與SEM成像同步且并列顯示。這使得用戶(hù)能觀察到缺陷、應(yīng)變、熱/電刺激對(duì)于工程材料性能、壽命和耐久性從納米到微米尺度的影響。這種同步實(shí)現(xiàn)更多的分析：
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