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掃描電子顯微鏡，半導體sem顯微鏡

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更新時間：2023-10-15 09:30:48瀏覽次數(shù)：204次

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產(chǎn)品簡介

掃描電子顯微鏡，半導體sem顯微鏡的作用：由于半導體器件體積小、重量輕、壽命長、功率損耗小、機械性能好.因而適用的范閘極廣

詳細介紹

掃描電子顯微鏡，半導體sem顯微鏡的作用：
由于半導體器件體積小、重量輕、壽命長、功率損耗小、機械性能好. 因而適用的范閘極廣。然而半導體器件的性能和穩(wěn)定性在很大程度上受它表面的微觀狀態(tài)的影響。
1.質量監(jiān)控與工藝診斷
2. 器件分析
3.失效分析和可靠性研究
4.電子材料研制分析
5. 這對檢測和研制真空微電子二極管是極其有用的。
6.可控制中子輻射損傷和選用合適的退火工藝消除內(nèi)部缺陷，提高 NTD 硅單晶質量。
7.半導體材料中的動力學現(xiàn)象
掃描電子顯微鏡，半導體sem顯微鏡的性能：
放大倍數(shù)：60000x /150000x
加速電壓：500V - 15kV
電子源:預對中鎢燈絲
聚光鏡:兩級電磁變焦聚光鏡
樣品臺:X-Y兩軸自動樣品臺
樣品臺移動范圍:30mm×30mm
標準配置：
背散射電子探測器
二次電極探測器
CCD光學導航