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近場(chǎng)測(cè)試

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產(chǎn)品型號(hào)LS-NF-T100

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所在地深圳市

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更新時(shí)間：2024-07-11 06:49:22瀏覽次數(shù)：200次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

  遙感探測(cè)光譜測(cè)量解決方案
  微型光譜儀測(cè)量解決方案
  光學(xué)附件測(cè)量解決方案
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遙感探測(cè)
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測(cè)解決方案：LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測(cè)試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測(cè)量、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量、近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量等各種定制化應(yīng)用需求。

詳細(xì)介紹

LS-NF-TF100近場(chǎng)測(cè)試

VCSEL（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，垂直共振腔表面放射激光）技術(shù)目前在在人臉識(shí)別、3D感測(cè)、手勢(shì)偵測(cè)和VR(虛擬現(xiàn)實(shí))/AR(增強(qiáng)現(xiàn)實(shí))/MR(混合現(xiàn)實(shí)等應(yīng)用領(lǐng)域越來越受到關(guān)注，萊森光學(xué)®可以為客戶提供VCSELVCSEL-3D SENSING/TOF檢測(cè)解決方案：LIV光譜/功率積分測(cè)試、NF近場(chǎng)特性測(cè)試、FF遠(yuǎn)場(chǎng)特性測(cè)試、BRDF/BTDF光學(xué)材料AR/VR特性測(cè)試、VCSEL積分球,實(shí)現(xiàn)對(duì)VCSEL單體、模組、及晶圓芯片的能量分布和均勻性測(cè)量、光譜波長(zhǎng)及功率測(cè)量、近場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量等各種定制化應(yīng)用需求。

近場(chǎng)測(cè)試技術(shù)特點(diǎn)

1.光譜范圍：400-1100nm

2.可測(cè)量光斑范圍：45μm – 4 mm

3.大功率100mW （可加衰減片OD1 - OD5）

4.實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)DUT空間光傳輸強(qiáng)度分布和發(fā)散情況（光斑大小、發(fā)散角、功率密度和均勻性）

5.分光衰減系統(tǒng)（直接耦合成像鏡頭和光斑分析儀，一體化設(shè)計(jì)）

關(guān)鍵詞：芯片

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