北京吉天儀器有限公司主營:原子熒光光度計,流動注射分析儀
影響原子熒光空白的因素
負高壓對空白值的影響負高壓對原子熒光空白值的影響十分明顯,特別是在空白值很高的情況下,負高壓能起到很好的調(diào)節(jié)作用,使所測量的數(shù)據(jù)準確、可靠。在儀器條件的選擇中,增大負高壓,所測的信號強度也隨之增大,但過高的負高壓會產(chǎn)生較大噪聲。負高壓過高過時信號很不穩(wěn)定,過低的話靈敏度不夠,使所測數(shù)據(jù)不確定度增大。實驗表明,負高壓為260~320V時,信號強度值重現(xiàn)性好。
原子熒光光譜儀的基本原理
原子熒光光譜法是通過測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生的熒光發(fā)射強度,來確定待測元素含量的方法。
氣態(tài)自由原子吸收特征波長輻射后,原子的外層電子從基態(tài)或低能級躍遷到高能級經(jīng)過約10-8s,又躍遷至基態(tài)或低能級,同時發(fā)射出與原激發(fā)波長相同或不同的輻射,稱為原子熒光。原子熒光分為共振熒光、直躍熒光、階躍熒光等。
發(fā)射的熒光強度和原子化器中單位體積該元素基態(tài)原子數(shù)成正比,式中:I f為熒光強度;φ為熒光效率,表示單位時間內(nèi)發(fā)射熒光光子數(shù)與吸收激發(fā)光光子數(shù)的比值,一般小于1;Io為激發(fā)光強度;A為熒光照射在檢測器上的有效面積;L為吸收光程長度;ε為峰值摩爾吸光系數(shù);N為單位體積內(nèi)的基態(tài)原子數(shù)。
原子熒光發(fā)射中,由于部分能量轉(zhuǎn)變成熱能或其他形式能量,使熒光強度減少甚至消失,該現(xiàn)象稱為熒光猝滅。
原子熒光光譜分析常見問題
光路系統(tǒng)
光路系統(tǒng)的問題主要是由空心陰極燈的聚焦和照射氫火焰的位置引起,常出現(xiàn)基線信號值很高現(xiàn)象,特別是在測定Hg和Pb的時候。主要是因 為石英爐的高度和透鏡聚焦點沒有調(diào)節(jié)到較佳位置。另一個光路系統(tǒng)的問題是雙道干擾。
a、基線信號值很高,原子化器的高度不合適。調(diào)節(jié)原子化器高 度。
b、一些元素靈敏度很低,透鏡聚焦點不合適。調(diào)節(jié)透鏡聚焦點。
c、一道熒光信號很強,另一道測定結(jié)果偏高或低。雙道干擾。單道測定。