北京吉天儀器有限公司主營(yíng):原子熒光光度計(jì),流動(dòng)注射分析儀
ICP光譜儀原理是什么?
ICP光譜儀又稱(chēng)分析儀,廣泛為認(rèn)知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫,散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域,并在選定的波長(zhǎng)上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理:
根據(jù)現(xiàn)代ICP光譜儀器的工作原理,ICP光譜儀可以分為兩大類(lèi):經(jīng)典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經(jīng)典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調(diào)制原理上的儀器。經(jīng)典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調(diào)制ICP光譜儀是非空間分析的,它采用圓孔進(jìn)光。根據(jù)色散組件的分析原理,ICP光譜儀器可分為:棱鏡ICP光譜儀,衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學(xué)多道分析儀OMA是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測(cè)器(CCD)和計(jì)算機(jī)控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理,存儲(chǔ)諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測(cè)量工作,使傳統(tǒng)的光譜技術(shù)發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測(cè)量準(zhǔn)確迅速,方便,且靈敏度高,響應(yīng)時(shí)間快,光譜分辨率高,測(cè)量結(jié)果可立即從顯示屏上讀出或由打印機(jī),繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測(cè)量,分析及研究工作中,特別適應(yīng)于對(duì)微弱信號(hào),瞬變信號(hào)的檢測(cè)。
維修ICP光譜儀的技巧
今天,ICP光譜儀小編在這里給大家分享一些關(guān)于維修ICP光譜儀的技巧,掌握這些方法有助于節(jié)省維修時(shí)間,提高工作效率。
當(dāng)光譜儀發(fā)生故障時(shí),尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障,解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手,如檢修儀器的電路板時(shí),先檢查電阻、電容、二極管等,再檢查集成電路、大功率模塊、微處理器IC等。
隨著電腦在光譜儀中的應(yīng)用,使儀器的檢測(cè)水平大幅提高,功能更智能,許多故障都可以通過(guò)電腦自帶的診斷程序進(jìn)行檢測(cè)。因此,當(dāng)光譜儀出現(xiàn)問(wèn)題時(shí),我們可以先用電腦檢查軟件程序運(yùn)行是否正常,再分析硬件是否有問(wèn)題。
光譜儀一般都會(huì)有一套完整的體系,有許多輔助設(shè)備,當(dāng)系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),應(yīng)先檢查電腦、穩(wěn)壓器等輔助設(shè)施,再看儀器主機(jī)運(yùn)行情況。
任何儀器都是靠人來(lái)操作的,所以在儀器出現(xiàn)異常時(shí),首先判斷是否存在人為的問(wèn)題。如在操作程序時(shí)是否輸錯(cuò)數(shù)據(jù),忘記打開(kāi)某個(gè)開(kāi)關(guān),看錯(cuò)某些標(biāo)志等。在嚴(yán)格按操作程序操作,并排除人為誤操作的基礎(chǔ)上,再分析儀器自身運(yùn)行是否存在問(wèn)題。
ICP光譜儀的目標(biāo)元素
ICP光譜儀是上世紀(jì)60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來(lái)的,它的迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開(kāi)的,那么ICP光譜儀的目標(biāo)元素都有哪些呢?下面小編就來(lái)介紹一下:
ICP光譜儀軟質(zhì)樣品(例如:銅、鋁、鋅、鉛)必須車(chē)削表面或用酒精濕磨.磨好的表面一定不要玷污(例如用手觸摸).考慮到金屬熱漲冷縮效應(yīng),會(huì)影響光線穩(wěn)定性.溫度變化會(huì)影響儀器的熱平衡,對(duì)和一些電器件會(huì)造成不穩(wěn)定,若溫差較大對(duì)光路也會(huì)有影響.
ICP光譜儀對(duì)于鋼和鑄鐵(顆粒大小,對(duì)鋼是60到80之間,對(duì)鑄鐵是40到60之間),建議用適合于本儀器樣品的砂紙干磨.砂紙一定不要被高合金含量的樣品污染(例如:應(yīng)該先用于低合金樣品,再用于高合金樣品).樣品必須在清潔的、規(guī)范的砂紙上磨(沒(méi)有先前激發(fā)處理留下的激發(fā)的痕跡).樣品表面不能被拋光(適時(shí)更新用過(guò)的砂紙).必須確保樣品在磨的過(guò)程中沒(méi)有過(guò)熱(樣品應(yīng)該與砂紙只有短暫的接觸)。如果需要,樣品應(yīng)該用水冷卻,再干燥,再盡可能短的時(shí)間干磨.
ICP光譜儀可用標(biāo)樣中目標(biāo)元素的“真實(shí)濃度"與分析線對(duì)和強(qiáng)度比(R)擬合工作曲線(校準(zhǔn)曲線)。如果鐵含量變化過(guò)大,如高、中合金鋼,其影響不可忽略,需要用標(biāo)樣中目標(biāo)元素的“相對(duì)濃度"(或“濃度比")與分析線對(duì)和強(qiáng)度比(R)擬合工作曲線,這就是我國(guó)光譜分析的前輩講的“誘導(dǎo)含量法"。如果希望用同一工作曲線同時(shí)分析高、中、低合金鋼,那就都要用“相對(duì)濃度"來(lái)校正基體含量的影響。更進(jìn)一步,如果既要校正基體含量的影響,又要校正共存元素的干擾,就應(yīng)該用“表觀濃度"來(lái)擬合工作曲線。
ICP光譜儀雖然本身測(cè)量準(zhǔn)確度很高,但測(cè)定試樣中元素含量時(shí), 所得結(jié)果與真實(shí)含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素的影響,有的材料本身含量就很低。