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行業(yè)產(chǎn)品

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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司


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半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng) 無損探傷檢測設(shè)備

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產(chǎn)品型號HS-phys-SimPLe

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

聯(lián)系方式：鄭蘭查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-10-27 12:00:42瀏覽次數(shù)：375次

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經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：22條

所在地區(qū)：北京北京市

聯(lián)系人：鄭蘭 （經(jīng)理）

產(chǎn)品簡介
測量范圍 直徑達(dá)400mm、厚度達(dá)30mm的晶片檢查 產(chǎn)地 進(jìn)口
尺寸 1800[H]x 1100[W]x 1100[D]mmmm 分辨率 0.4mm分辨率的近紅外InGaAs探測器
類型 無損傷 重量 270kg

HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍(lán)寶石等半導(dǎo)體晶片及晶環(huán)生產(chǎn)過程中以的分辨率探測晶片和晶環(huán)的內(nèi)部滑移線、內(nèi)部隱裂等內(nèi)部缺陷檢測的儀器

詳細(xì)介紹

HS-phys-SimPLe半導(dǎo)體晶片內(nèi)部缺陷檢測系統(tǒng)是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍(lán)寶石等半導(dǎo)體晶片及晶環(huán)生產(chǎn)過程中以的分辨率探測晶片和晶環(huán)的內(nèi)部滑移線、內(nèi)部隱裂等內(nèi)部缺陷檢測的儀器



檢測原理是：HS-Phys-SimPLe系統(tǒng)是一種高分辨率光致發(fā)光（PL）掃描映射系統(tǒng)，用于表征直徑高達(dá)400mm的半導(dǎo)體晶片。使用專門設(shè)計的高強(qiáng)度激光源來激發(fā)半導(dǎo)體材料中的少子載流子。

三種類型復(fù)合載體：SRH（Shockley-Read-Hall）深能級復(fù)合，Auger俄歇復(fù)合和Radiative輻射復(fù)合。在較低注入水平下，Auger俄歇復(fù)合可以忽略不計，因此“清潔"區(qū)域由輻射控制，而污染區(qū)域主要由SRH深能級復(fù)合控制。由于結(jié)晶滑移缺陷就像溶解污染的吸雜點，具有較低的輻射發(fā)射。因此可以通過PL技術(shù)將其可視化。


產(chǎn)品特點

■   直徑達(dá)400mm、厚度達(dá)30mm的晶片檢查

■   60µm分辨率下的滑移線檢測

■   更多波長可供選擇

■   檢測速度：12英寸-13分鐘，8英寸-5分鐘

■   利用優(yōu)化的波長和過濾進(jìn)行PL滑移線檢查，可以發(fā)現(xiàn)制程中尚未發(fā)現(xiàn)的問題

■   顯示更小的滑移線等內(nèi)部缺陷。

■   自動晶圓探測器

■   自動參數(shù)設(shè)置

■   即使在低信號采樣上也具有高分辨率和高對比度





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