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更新時(shí)間：2025-02-27 11:16:46瀏覽次數(shù)：55次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線產(chǎn)品描述：HJ-6902電渦流靜態(tài)位移效驗(yàn)儀是一種便攜式效驗(yàn)設(shè)備，可用于現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室。主要用于電渦流位移傳感器靜態(tài)特性的標(biāo)定及電渦流位移傳感器配套位移測(cè)量?jī)x表的標(biāo)定。HJ-6902電渦流靜態(tài)位移效驗(yàn)儀
一、簡(jiǎn)介
HJ-6902電渦流靜態(tài)位移效驗(yàn)儀用于傳感器出廠檢驗(yàn)和用戶驗(yàn)收電渦流位移傳感器線性的重要工具，為了確保傳感器符合本公司出廠線性度、靈敏度要求，都需要使用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀校驗(yàn)以及對(duì)位移類測(cè)量?jī)x表系統(tǒng)的標(biāo)定。
HJ-6902電渦流靜態(tài)位移效驗(yàn)儀是一種便攜式效驗(yàn)設(shè)備，可用于現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室。主要用于電渦流位移傳感器靜態(tài)特性的標(biāo)定及電渦流位移傳感器配套位移測(cè)量?jī)x表的標(biāo)定。
二、校驗(yàn)參數(shù)位移
校準(zhǔn)精度：百分表精度技術(shù)指標(biāo)
校準(zhǔn)范圍：0 ～ 25mm 0 ～ 35mm 0 ～ 50mm
試件材料：45#鋼
試件直徑：Φ 75mm 或Φ 105mm 校準(zhǔn)探頭： Φ 25 mm
試件直徑：Φ 105mm 或Φ 125mm 校準(zhǔn)探頭：Φ 35 mm
試件直徑：Φ 150mm 或Φ 175mm 校準(zhǔn)探頭：Φ 50 mm
三、用靜態(tài)位移校驗(yàn)儀校準(zhǔn)傳感器線性和靈敏度或標(biāo)定位移表的注意事項(xiàng)：
探頭螺紋部分用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀上的支架配合螺母夾緊，注意試件盤的水平垂
直性，校驗(yàn)前須檢查探頭端面靠緊試件盤的表面時(shí)，其相互接觸處應(yīng)無(wú)明顯角
度（≤5°）縫隙，這樣才符合校驗(yàn)前的要求。
校驗(yàn)傳感器時(shí)應(yīng)配合出廠時(shí)提供的傳感器數(shù)據(jù)單。當(dāng)旋轉(zhuǎn)螺桿(位移調(diào)節(jié)螺母)
使試件盤漸漸遠(yuǎn)離探頭的表面，用萬(wàn)用表（5位半以上，并且該表是經(jīng)過計(jì)量標(biāo)定
過的）觀察前置器的輸出變化，以傳感器數(shù)據(jù)單上輸出曲線的起始線性電壓為基準(zhǔn)
點(diǎn)開始校對(duì)，一般情況傳感器線性起點(diǎn)都定在-2.00V（菲利浦傳感器線性起始點(diǎn)電
壓為－4.00V）。注意試件盤從緊靠探頭表面到逐漸離開探頭表面，直到前置器輸
出電壓為起始線性點(diǎn)電壓時(shí)（此時(shí)還可人為調(diào)整靜態(tài)校驗(yàn)儀上的百分表，使指針對(duì)
準(zhǔn)0位置，便于讀數(shù)）。這時(shí)從百分表上讀的起始位置間隙值可能和數(shù)據(jù)單上的起
始位置間隙值不一致，這種情況是正常的，因?yàn)殚_始設(shè)定探頭表面和試件盤表面
靠緊時(shí)，會(huì)存在一定的人為因素誤差和試件材料的略為影響。（如數(shù)據(jù)單上起始位
置間隙是1.0mm,而你校對(duì)時(shí)是1.10mm，即使有這種情況也不影響傳感器的測(cè)量非線
性誤差和靈敏度,因?yàn)檫@個(gè)起始間隙是屬無(wú)效線性距離，不影響傳感器實(shí)際測(cè)量時(shí)的
相對(duì)位移或相對(duì)振動(dòng)）。然后每移動(dòng)0.1mm 或0.2mm或0.5mm或1.0mm觀察前置器輸
出的電壓值并紀(jì)錄。
用靜態(tài)位移校驗(yàn)儀檢驗(yàn)傳感器的線性特性曲線時(shí)，通常將傳感器的滿有效線性
量程按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)（若為φ8探頭電渦流傳感器，其本身有效線性測(cè)量量程
為2mm，當(dāng)按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，即每移動(dòng)試盤0.1mm后在前置器上讀出一個(gè)
數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個(gè)數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線性特性曲線，分析傳感器輸出
曲線非線性誤差是否滿足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁
性物質(zhì)，以防試件盤被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來(lái)測(cè)量誤差。
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