BHAST（偏壓）加速老化試驗箱，評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST試驗。

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BHAST（偏壓）加速老化試驗箱

評估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗，可進行BHAST試驗。

特點

·高機能：采用驅(qū)動計測，測試時焊接工序大幅減少

·軟件設(shè)計簡單明了，直觀易操作

·遠程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗過程。

·便利性高：構(gòu)造裝著脫落式、易進行保養(yǎng)交換?？赏瑫r試驗停止等聯(lián)動裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測試自檢功能：點檢、校正方便。

·設(shè)計精巧，不受場所限制，易移動。

·可靠性高：配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，確保試驗的安全繼續(xù)進行。

用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應(yīng)力壽命老化試驗。

應(yīng)用領(lǐng)域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片

BHAST（偏壓）加速老化試驗箱

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