當前位置：陜西博微電通科技有限責任公司>>半導體測試>>功率半導體可靠性測試>>半導體間歇壽命功率循環(huán)實驗系統(tǒng)

半導體間歇壽命功率循環(huán)實驗系統(tǒng)

返回列表頁

參考價:100008

具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號
BW-IOL-X16M
品牌
其他品牌
廠商性質
生產商
所在地
西安市

規(guī)格

BW-HAST-H4 100008元 10件可售

在線詢價收藏產品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：博微電通查看聯(lián)系方式

更新時間：2023-12-23 17:09:09瀏覽次數(shù)：613次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產品分類 品牌分類

  半導體測試

功率半導體綜合測試系統(tǒng)

半導體雪崩浪涌測試系統(tǒng)

高精度半導體自動溫度實驗

功率半導體可靠性測試

半導體分立器件測試

全部產品列表

  其他品牌

陜西博微電通科技有限責任公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：15條

所在地區(qū)：陜西西安市

聯(lián)系人：博微電通（產品經理/銷售總監(jiān)）

詢價 給他留言

產品簡介

產地	國產

適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數(shù)測試、穩(wěn)態(tài)熱阻測試及功率循環(huán)試驗
試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關標準要求
系統(tǒng)平均無問題時間≥10000 小時
每通道為 48 工位，48 工位中每個工位可進行 Tj 測試

詳細介紹

BW-IOL-X16M

半導體間歇壽命溫度循環(huán)實驗系統(tǒng)

■適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數(shù)測試、穩(wěn)態(tài)熱阻測試及功率循環(huán)試驗。

■符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101試驗標準要求。

■試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關標準要求

■系統(tǒng)平均無問題運行時間≥10000 小時

■每通道為 48 工位，48 工位中每個工位可進行 Tj 測試

技術特點 Technical characteristics

■在試驗的過程中實時測量被試器件的結溫，并顯示max結溫、min結溫及結溫差。

■試驗的過程定時測量被試器件的結殼熱阻，有利于觀察試驗過程中熱阻值的變化。

■設備帶有煙霧探測器，系統(tǒng)探測到煙霧后自動停止。