TESCAN CLARA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

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更新時(shí)間：2024-01-19 07:13:32瀏覽次數(shù)：392次

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上海永傲精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

新一代的電子光學(xué)和成像技術(shù)使 TESCAN CLARA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡成為任何分析測(cè)試中心，材料表征實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室*的設(shè)備。直觀，模塊化的用戶界面可根據(jù)每個(gè)操作員的需求進(jìn)行定制，可以有效的提高工作效率。預(yù)設(shè)程序和成像條件可以幫助新手用戶輕松獲得高質(zhì)量的圖像，并盡可能協(xié)助其完成能力范圍內(nèi)可操作的功能。

詳細(xì)介紹

TESCAN CLARA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 的分辨率可以達(dá)到亞納米級(jí)別，能夠揭示材料細(xì)微的結(jié)構(gòu)。 TESCAN *的 Wide Field Opticls™ 技術(shù)幫助您在大視野下全方面了解樣品的構(gòu)成（小放大倍數(shù)可至2倍），從而快速定位感興趣的區(qū)域。

TESCAN CLARA 在低電壓下仍保持了出色的分辨率，因而不僅適用于樣品極表面進(jìn)行形貌觀察，同時(shí)也是表征光敏樣品和非導(dǎo)電樣品的理想選擇。 TESCAN CLARA ，不僅在低電壓下?lián)碛蟹浅８叩姆直媛剩夷軌蛲ㄟ^(guò)選擇二次電子和背散射電子的不同襯度，來(lái)探索樣品可能包含的大量信息，因而是分析測(cè)試中心或材料科學(xué)研究實(shí)驗(yàn)室選擇。

*的鏡筒內(nèi) BSE 探測(cè)器設(shè)計(jì)可以根據(jù)能量和角度不同選擇信號(hào)
鏡筒內(nèi) BSE 探測(cè)器所安裝的特殊位置使得它可以同時(shí)采集不同 “出射”角度的背散射電子（BSE）。 Axial BSE 探測(cè)器收集近軸背散射電子信號(hào)，而 Multidetector（BSE）則收集中角背散射電子信號(hào)，這兩個(gè)信號(hào)是明顯不同的。通過(guò) Axial BSE 探測(cè)器我們可以抑制不希望看到的由于樣品的表面形貌引起的干擾，從而觀察到材料成分襯度。相比之下，Multidetector（BSE）收集中角背散射電子，獲得既有成分襯度又有形貌襯度的圖像，但更凸顯表面形貌的特點(diǎn)。 Multidetector 配有一個(gè)能量過(guò)濾器，可以實(shí)現(xiàn)二次電子信號(hào)和背散射電子信號(hào)的能量過(guò)濾，以便增強(qiáng)背散射電子的襯度。

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