鄭州科探儀器設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：低溫探針臺(tái)高溫真空微型測(cè)試臺(tái) 真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空探針臺(tái)測(cè)試設(shè)備高低溫測(cè)試臺(tái)探針臂為X/Y/Z三軸移動(dòng)，三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下精密移位調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：該探針臺(tái)的承片臺(tái)X/Y/Z三個(gè)方向均可在真空環(huán)境下調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)高低溫控制真空探針臺(tái) *范圍：0－13mm；z方向...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空測(cè)試微型探針臺(tái)該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)＜5Pa分子泵可達(dá)＜-3Pa。真空信號(hào)連接處使用級(jí)別真空電極信號(hào)接頭，保證氣密性及...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：實(shí)驗(yàn)室真空加熱腔體 探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空環(huán)境測(cè)試真空加熱腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電化學(xué)信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體可擴(kuò)展模塊較多，該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和4-8芯信...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空腔體氣體傳感器 加熱主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電化學(xué)信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體可擴(kuò)展模塊較多，該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口和4-8芯...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：該液氮實(shí)驗(yàn)室真空探針臺(tái)的承載臺(tái)為60x60不銹鋼臺(tái)面，臺(tái)面可升溫到350℃ 低溫-130。
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：四探針測(cè)試臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空高低溫光電器件測(cè)試探針臺(tái).測(cè)試腔：同時(shí)滿足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測(cè)試；測(cè)試樣品數(shù)：同時(shí)測(cè)試8個(gè)樣品，可進(jìn)行頻率-...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：光學(xué)環(huán)境真空微腔探針臺(tái) 測(cè)試腔：同時(shí)滿足靜態(tài)/動(dòng)態(tài)測(cè)試，304不銹鋼材質(zhì)，可在紫外燈下保證氣密性測(cè)試；測(cè)試樣品數(shù)：同時(shí)測(cè)試8個(gè)樣品，可進(jìn)行頻率-阻抗測(cè)...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：不銹鋼加熱真空腔體 * 經(jīng)濟(jì)型真空腔體測(cè)試腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為50x5...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：6探針氣體環(huán)境密封真空探針臺(tái)探針臺(tái) 高溫探針測(cè)試臺(tái) 變溫探針臺(tái)真空高低溫光電器件測(cè)試探針臺(tái)
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：流量計(jì)數(shù)量：5個(gè)，（根據(jù)客戶需求標(biāo)定 氣體量程進(jìn)氣口和出氣口） 氣體環(huán)境密封 6探針真空探針臺(tái)測(cè)試腔流量規(guī)格：500 ml/min精準(zhǔn)度：#177;1...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：方型真空加熱腔主要用于氣體敏感材料或其他對(duì)環(huán)境敏感性材料中的電信號(hào)測(cè)試。測(cè)試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺(tái)，臺(tái)面為φ100mm，臺(tái)面可升溫到350℃。該...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：真空低溫探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-20 在線留言
詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：小型真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：KT-Z1604T真空探針熱臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：氣敏材料測(cè)試真空加熱腔體主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并...
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詳細(xì)摘要： 簡(jiǎn)要描述：本1650真空加熱腔 快速升溫爐為桌面式高溫真空加熱臺(tái)。用于少量樣品功能陶瓷，光學(xué)材料，碳復(fù)合材料，硬質(zhì)合金，粉末冶金等在高溫條件下進(jìn)行燒結(jié)處理，也可...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-20 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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