TP200 / TP200B測頭本體

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更新時間：2024-11-29 10:49:42瀏覽次數(shù)：70次

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產(chǎn)品簡介

TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和精確的三維形狀測量，即使配用長測針時也不例外

詳細介紹

TP200采用微應變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復性和精確的三維形狀測量，即使配用長測針時也不例外。

傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發(fā)的誤觸發(fā)問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。

規(guī)格摘要	TP200	TP200B
主要應用	用于要求高精度的數(shù)控坐標測量機。	與TP200一樣，但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時使用。
感應方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復精度 (2σ µm)	電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm	電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm
XY (2D) 形狀測量偏差	電平觸發(fā)1：±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm	電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm
XYZ (3D) 形狀測量偏差	電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm	電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm
測針交換的重復精度	SCR200：±0.50 µm（）手動：±1 µm（）	SCR200：±0.50 µm（）手動：±1 µm（）
測力（測尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N
過行程測力（位移為0.50 mm時）	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N	XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
最長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上）	300 mm	300 mm
推薦的測針長度（M2測針系列）	SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF	SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI 200-3、UCC	PI 200-3、UCC
測針模塊交換架	自動：SCR200 手動：MSR1	自動：SCR200 手動：MSR1
測針系列	M2	M2

TP200測針模塊

測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。

有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。

模塊	SF（標準測力）	LF（低測力）	EO（長過行程）
應用	一般用途。	小直徑測球或必須使用最小測力的場合。	額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
說明	測針最長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。	測球直徑小于1 mm。	與SF的過行程測力相同。測頭Z軸的額外過行程為8 mm。

模塊

SF（標準測力）

LF（低測力）

EO（長過行程）

應用

一般用途。

小直徑測球或必須使用最小測力的場合。

額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。

說明

測針最長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。

測球直徑小于1 mm。

與SF的過行程測力相同。