微聚焦多導(dǎo)毛細(xì)管鍍層厚度測厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)在ji微小樣品測試中獲得geng gao的激發(fā)qiang度，同等光斑面積下，熒光qiang度是傳統(tǒng)X鍍層儀器千倍以上；geng gao 計(jì)數(shù)率bao zheng 了儀器的準(zhǔn)確性和wen ding 性。內(nèi)外雙激光，搭載quan zi dong gao jing度樣品移動平臺，開蓋自動彈出功能，讓測試geng省心。雙攝廣角視頻系統(tǒng)，配備高分辨率的攝像 頭，圖像geng清晰，微小樣品jing 確ding位、準(zhǔn)確分析。

微聚焦多導(dǎo)毛細(xì)管鍍層厚度測厚儀鍍層測試方法

X 射線熒光鍍層厚度測量是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出的2次X 射線(X射線熒光)的 qiang度來測量鍍層厚度的方法。通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數(shù)法(FP 法)。

能量色散型X射線熒光鍍層測厚儀可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行非接觸式測量。而且測量時(shí)間較短， 僅為3-20s。

多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層檢測技術(shù)

1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測需求，研發(fā)適用于鍍層檢測的chao近光路系統(tǒng)，減少能量過程損耗。 搭載多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管，ji大的提升了儀器的檢測性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng gao 的檢測靈敏度和分析jing du 以及gao 計(jì)數(shù)率bao zheng 測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和wen ding 性。

2、全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì)，呈現(xiàn)全高清廣角視野，讓樣品觀察geng quan mian ；微米級別分辨率，較好的man zu chao微產(chǎn)品的測試，讓測試geng guang fan geng 便捷。

3、優(yōu)質(zhì)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，信號qiang度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個數(shù)量級。

4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管，較好的man zu 用戶不同測試需求。

5、gao jing 度XYZ 軸移動測試平臺，結(jié)合雙激光點(diǎn)位定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)在樣品測試過程中的quan zi動化感受， 一鍵點(diǎn)擊，測試geng省心。

微聚焦多導(dǎo)毛細(xì)管 鍍層厚度測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用行業(yè)：

 · 測量chao微小部件和結(jié)構(gòu)，如：印制線路板、連接器或引線框架等；

· 分析chao薄鍍層，如：厚度薄至2nm 的Au 鍍層和≤30nm 的Pd 鍍層；

 · 測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層；

· 分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

 ·quan zi動測量，如：用于質(zhì)量kong zhi ling yu ；

 · 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 標(biāo)準(zhǔn)。