X-ray膜厚儀是天瑞儀器結(jié)合20多年的X熒光研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，集中了光電子、微電子、半導(dǎo)體和計(jì)算機(jī)等多項(xiàng)技術(shù)，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的，性價(jià)比優(yōu)的金屬電鍍層厚度檢測(cè)儀。

X-ray膜厚儀鍍層厚度測(cè)試方法般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005

3、庫(kù)侖法，此法般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

1標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

性能優(yōu)勢(shì)

1.性高：由于測(cè)試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的性更高。

2.滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。

3.快速：40S就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。

4.無損：測(cè)試前后，樣品無任何形式的變化。

5.直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)

6.簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

7.性價(jià)比高：相比其他類類儀器，x熒光鍍層測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。