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行業(yè)產(chǎn)品

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西安長(zhǎng)禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司


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汽車(chē)電子SiC.MOS動(dòng)靜態(tài)測(cè)試服務(wù)

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參  考  價(jià):99
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào)

    長(zhǎng)禾CNAS

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    西安市

規(guī)格

1 99元 999件可售

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更新時(shí)間:2025-03-14 09:47:45瀏覽次數(shù):35次

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經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品:23條

所在地區(qū):陜西西安市

聯(lián)系人:白曉輝 (銷(xiāo)售)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
加工定制    

功率器件參數(shù)驗(yàn)證與二次篩選測(cè)試:保障器件性能穩(wěn)定,助力客戶(hù)優(yōu)化供應(yīng)鏈質(zhì)量控制。
車(chē)規(guī)級(jí)元器件檢測(cè):針對(duì)新能源汽車(chē)領(lǐng)域,提供符合嚴(yán)苛車(chē)規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的功率器件篩選與可靠性驗(yàn)證,助力行業(yè)客戶(hù)突破核心技術(shù)。
環(huán)境與老化實(shí)驗(yàn):模擬復(fù)雜環(huán)境下器件工作狀態(tài),確保產(chǎn)品在復(fù)雜工況中長(zhǎng)期可靠運(yùn)行。
失效分析及可靠性評(píng)估:快速精準(zhǔn)定位元器件失效根因,為產(chǎn)品改進(jìn)和技術(shù)迭代提供有力支撐。
汽車(chē)電子SiC.MOS動(dòng)靜態(tài)測(cè)試服務(wù)

詳細(xì)介紹

汽車(chē)電子SiC.MOS動(dòng)靜態(tài)測(cè)試服務(wù)


西安長(zhǎng)禾半導(dǎo)體技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)“長(zhǎng)禾實(shí)驗(yàn)室"),位于中國(guó)西部科技創(chuàng)新高地——西安市,專(zhuān)注于功率半導(dǎo)體器件檢測(cè)與驗(yàn)證。

作為國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)(CNAS)正式認(rèn)證的大功率器件測(cè)試服務(wù)中心,長(zhǎng)禾實(shí)驗(yàn)室嚴(yán)格遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),致力于為國(guó)內(nèi)外客戶(hù)提供一站式專(zhuān)業(yè)測(cè)試服務(wù)。實(shí)驗(yàn)室配備功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備和自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),全面覆蓋IGBT、MOSFET、二極管、晶閘管等核心功率器件的參數(shù)驗(yàn)證、可靠性評(píng)估和失效分析。憑借技術(shù)實(shí)力和創(chuàng)新能力,已成長(zhǎng)為國(guó)內(nèi)少數(shù)具備全鏈條功率器件測(cè)試、篩選及老化服務(wù)的機(jī)構(gòu)之一。業(yè)務(wù)涵蓋了軌道交通、新能源發(fā)電(風(fēng)電、光伏)、新能源汽車(chē)、國(guó)防、工業(yè)控制、科研機(jī)構(gòu)等多個(gè)領(lǐng)域,為中國(guó)核心產(chǎn)業(yè)鏈提供堅(jiān)實(shí)的技術(shù)保障。

完善的基礎(chǔ)設(shè)施和優(yōu)秀團(tuán)隊(duì)一直是實(shí)驗(yàn)室強(qiáng)化的重點(diǎn),實(shí)驗(yàn)室核心團(tuán)隊(duì)研究生占比70%以上,具備深厚的學(xué)術(shù)背景和豐富的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。在質(zhì)量控制方面,實(shí)驗(yàn)室建立了完善的質(zhì)量管理體系,嚴(yán)格執(zhí)行實(shí)驗(yàn)室管理標(biāo)準(zhǔn)。每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目均建立了詳細(xì)的作業(yè)指導(dǎo)書(shū),確保測(cè)試過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)化和可追溯性,數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。

長(zhǎng)禾實(shí)驗(yàn)室秉持“嚴(yán)謹(jǐn)求實(shí)、精益求精"的企業(yè)精神,致力于推動(dòng)中國(guó)功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的高質(zhì)量發(fā)展,助力打造具備競(jìng)爭(zhēng)力的半導(dǎo)體生態(tài)系統(tǒng)。未來(lái),長(zhǎng)禾實(shí)驗(yàn)室將繼續(xù)發(fā)揮技術(shù)和資源優(yōu)勢(shì),立足西安,努力成長(zhǎng)為優(yōu)秀功率半導(dǎo)體測(cè)試與驗(yàn)證服務(wù)平臺(tái),助力中國(guó)“芯"騰飛。

汽車(chē)電子SiC.MOS動(dòng)靜態(tài)測(cè)試服務(wù)

分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試(DC)

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012、GJB128B-2021

試驗(yàn)對(duì)象:DIODE、BJTSCR、MOSFETIGBT、SiC器件等分立器件;

檢測(cè)能力:檢測(cè)電壓:2000V 檢測(cè)電流:200A;

試驗(yàn)參數(shù):

漏電參數(shù):IR、ICBO、ICEO、IDSS、IDOFF、IDRM、 IRRM、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、 IGSSR

擊穿參數(shù):BVCEO、BVCES、BVDSS、BVCBOVDRM、 VRRM、BVRBVZ、BVEBOBVGSS;

導(dǎo)通參數(shù):VCESATVBESAT、VBEON、VF、VGSTHVGETH、VTM;

關(guān)斷參數(shù):VGSOFF

觸發(fā)參數(shù):IGT、VGT

保持參數(shù):IH、IH+、IH-

鎖定參數(shù):IL、IL+、IL-

混合參數(shù):RDSON、GFS

I-V曲線掃描

ID vs.VDS at range of VGS

ID vs.VGS at fixed VDS

IS vs.VSD

RDS vs.VGS at fixed ID

RDS vs.ID at several VGS

IDSS vs.VDS

HFE vs.IC

BVCEO,S,R,V vs.IC

BVEBO vs.IE

BVCBO vs.IC

VCESAT vs.IC

VBESAT vs.IC

VBEON vs.IC use VBE test

VCESAT vs.IB at a range of ICVF vs. IF

功率模塊靜態(tài)參數(shù)測(cè)試(DC

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:DIODE、IGBT、MOSFET、SCR、整流橋等功率;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:7000V,檢測(cè) 電流:5000A

試驗(yàn)參數(shù):

漏電參數(shù):IR、ICBOICEO、IDSSIDOFF、IDRMIRRM、ICES、IGESF、IGESRIEBO、IGSSF、 IGSSR;

擊穿參數(shù):BVCEO、BVCES、BVDSS、BVCBO、VDRM VRRM、BVRBVZ、BVEBO、BVGSS

導(dǎo)通參數(shù):VCESAT、VBESATVBEON、VFVGSTH、VGETH、VTM;

關(guān)斷參數(shù):VGSOFF

觸發(fā)參數(shù):IGTVGT

保持參數(shù):IH、IH+IH-

鎖定參數(shù):IL、IL+、IL-

混合參數(shù):RDSON、GFS

開(kāi)關(guān)特性測(cè)試(Switch

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:4500V 檢測(cè) 電流:5000A

試驗(yàn)參數(shù):開(kāi)通/關(guān)斷時(shí)間ton/toff、上升/下降時(shí)間tr/tf、開(kāi)通/關(guān)斷延遲時(shí)間td(on)/td(off)、開(kāi)通/關(guān)斷損耗Eon/Eoff、電流尖峰Ic-peak max、電壓尖峰Vce-peak max、電壓變化率dv/dt、電流變化率di/dt

反向恢復(fù)測(cè)試(Qrr

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:DIODEMOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:4500V 檢測(cè) 電流:5000A

試驗(yàn)參數(shù):反向恢復(fù)電荷Qrr、反向恢復(fù)電流Irm、反向恢復(fù)時(shí)間Trr、反向恢復(fù)電流變化率diF/dt、反向恢復(fù)損耗Erec;

柵極電荷(Qg

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:4500V 檢測(cè) 電流:5000A

試驗(yàn)參數(shù):柵極電荷Qg、漏極電荷Qgs、源極電荷Qgd;

短路耐量(SCSOA

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:DIODE、MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:4500V 檢測(cè) 電流:10000A

試驗(yàn)參數(shù):短路電流Isc、短路時(shí)間Tsc、短路能量Esc;

結(jié)電容(Cg    

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ侯l率:0.1-1MHz、檢測(cè) 電壓:1500V

試驗(yàn)參數(shù):輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反向傳輸電容Cres

C-V曲線掃描      

輸入電容Ciss-V;

輸出電容Coss-V

反向傳輸電容Cres-V;

柵極電阻(Rg

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗(yàn)對(duì)象:DIODEMOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件;

試驗(yàn)?zāi)芰Γ簷z測(cè) 電壓:1500V;

試驗(yàn)參數(shù):柵極等效電阻Rg

汽車(chē)電子SiC.MOS動(dòng)靜態(tài)測(cè)試服務(wù)



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