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德國(guó)EPK公司MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀超聲波厚度檢測(cè)儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

德國(guó)EPK公司MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀
是德國(guó)EPK公司推出的型超聲波測(cè)厚儀。MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)。

詳細(xì)介紹

德國(guó)EPK公司MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀
MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀是德國(guó)EPK公司推出的型超聲波測(cè)厚儀。MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)。
ＭiniTest 400A超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀具有MiniTest 400A全部功能外，新增了下列功能：
回波－回波測(cè)量(透過涂層測(cè)量)
高精準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀
高阻抗雙晶探頭
快速測(cè)量金屬、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。
適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀可選配置階梯試塊，通訊電纜，通訊軟件，高溫探頭等，
德國(guó)EPK公司MiniTest 400超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目	參數(shù)		400	400A	400B
零位校準(zhǔn)	開機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn)			●	●
測(cè)量參數(shù)	發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm	標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：滿足常用的檢測(cè)要求	●	●	●
		zui小值測(cè)量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測(cè)量環(huán)境	●	●	●
		差分測(cè)量：顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值		●	●
		平均測(cè)量：提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值		●	●
		上下限測(cè)量：極限報(bào)警		●	●
	回波－回波模式，量程3-25mm	透過涂層測(cè)量基體厚度			●
	快速掃查模式	適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境，每秒10次的測(cè)量，可以同時(shí)顯示測(cè)量中的zui大值和zui小值		●	●
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)	10組5000個(gè)數(shù)據(jù)，動(dòng)態(tài)分配			●	●
數(shù)據(jù)輸出	USB接口，通過USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)			●	●
顯示信息	測(cè)量值，聲速值，探頭型號(hào)，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組
示值精度	小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm
單位	公制/英制
聲速范圍	1000m/s - 9999m/s
增益	自動(dòng)；手動(dòng)可調(diào)
聲速測(cè)量	確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值
探頭識(shí)別	自動(dòng)識(shí)別探頭
關(guān)機(jī)選擇	可選擇2分鐘，5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī)
外形尺寸	130 × 73 × 24 mm(L×W×H)
重量	約190g

探頭技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	晶體直徑	頻率	測(cè)量范圍	工作溫度	簡(jiǎn)介
EP8E	8MM	5.0MHZ	3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E)	-12～+60℃	400B標(biāo)配探頭，400B*探頭，具有透過涂層測(cè)量模式。zui小測(cè)量管外徑20mm
EP4	4MM	10.0MHZ	0.65-20MM	-12～+60℃	小管徑探頭。zui小測(cè)量管外徑10mm
EP6	6MM	7.5MHZ	0.65-50MM	-12～+60℃	主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑15mm
EP8	8MM	5.0MHZ	0.8-350MM	-12～+60℃	400,400A標(biāo)配探頭，主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測(cè)量管外徑20mm
ECP12	12MM	2.0MHZ	2.0-500MM	-12～+60℃	粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量。zui小測(cè)量管外徑30mm
EHP13	13MM	5.0MHZ	3.0-200MM	-12～+350℃	高溫探頭，主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量，注：測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。zui小測(cè)量管外徑25mm