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EIGER2 R-DECTRIS混合像素光子計(jì)數(shù)探測器

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公司名稱北京優(yōu)納珂科技有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地國外
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2022/7/7 15:50:22
訪問次數(shù)366

產(chǎn)品標(biāo)簽:

光子計(jì)數(shù)探測器

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公司介紹主營產(chǎn)品

北京優(yōu)納珂科技有限公司是德國Mar公司、德國STOE公司、英國牛津OxfordCryosystems公司在ZG的駐華銷售辦事處及售后服務(wù)ZX，同時也是瑞士DECTRIS公司在ZG的主要合作伙伴，包括ZG同步輻射領(lǐng)域的代理，專業(yè)從事X-射線散射及衍射結(jié)構(gòu)分析類儀器及相關(guān)配件、耗材在國內(nèi)推廣、銷售及研發(fā)與生產(chǎn)，我們經(jīng)過不懈努力向客戶提供全集成的，高附加值的全領(lǐng)域解決方案。

我公司目前的主要產(chǎn)品為X-射線散射及衍射專業(yè)領(lǐng)域的所有應(yīng)用產(chǎn)品，主要包括生物大分子、小分子及高壓全套單晶衍射儀（XRD）、粉晶衍射儀（XRD），小角廣角X射線散射儀（SAXS/WAXS）、X射線成像,及配套的高低溫設(shè)備，高壓設(shè)備，拉伸裝置，X-光強(qiáng)度測試儀，各種配套用測角儀和樣品臺，ZX性能的探測器等全系列X射線結(jié)構(gòu)分析類產(chǎn)品。
儀器設(shè)備的應(yīng)用覆蓋從基礎(chǔ)研究到工業(yè)質(zhì)量控制的材料性能表征，涉及元素分析，材料研究，結(jié)構(gòu)分析等等, 我們通過提供高精密度，高分辨率的儀器設(shè)備來保證包括化學(xué)，化工，冶金、石油，材料，制藥，半導(dǎo)體，生命科學(xué)，納米技術(shù)的企業(yè)客戶和學(xué)術(shù)研究單位對單晶及粉晶的結(jié)構(gòu)分析及各類材料的小角廣角散射分析及創(chuàng)新型的科研需要。
- 對新型化合物、催化劑、醫(yī)藥, 天然產(chǎn)物，蛋白質(zhì)，核酸等需明確表征分子的三維（3D）原子結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)分析等
- 無機(jī)晶相，有機(jī)晶相，多功能材料等的物相定性、定量分析，礦物的X射線定性、定量分析等
- 納米結(jié)構(gòu)分析（形狀、尺寸和內(nèi)部結(jié)構(gòu)），分散穩(wěn)定性，顆粒成核現(xiàn)象，孔隙度（比表面），結(jié)晶度和取向，溶液中的生物大分子(Bio-SAXS)，納米結(jié)構(gòu)表面 (GISAXS)等。
我公司以提供YL的誠信、質(zhì)量、效率為追求目標(biāo)，以*為依托，本著“信譽(yù)DY、客戶至上”的原則，提供專業(yè)的產(chǎn)品、技術(shù)服務(wù)與支持，滿足客戶日益復(fù)雜化和多樣化的需求。
歡迎來電來函咨詢有關(guān)業(yè)務(wù)。我們將以飽滿熱忱的服務(wù)讓您滿意！

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X射線衍射儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

DECTRIS	0

EIGER 2 R 集合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測器的*技術(shù)。小尺寸像素與直接探測相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內(nèi)進(jìn)行精細(xì)的樣品測量。*的計(jì)數(shù)率性能確保精確測量高強(qiáng)度X射線。利用該探測器系列的巨大動態(tài)范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態(tài)下可進(jìn)行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。

EIGER2 R-DECTRIS混合像素光子計(jì)數(shù)探測器產(chǎn)品信息

1.EIGER 2 R: 您實(shí)驗(yàn)室的新一代混合光子探測技術(shù)
EIGER 2 R 集合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測器的*技術(shù)。小尺寸像素與直接探測相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內(nèi)進(jìn)行精細(xì)的樣品測量。*的計(jì)數(shù)率性能確保精確測量高強(qiáng)度X射線。利用該探測器系列的巨大動態(tài)范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態(tài)下可進(jìn)行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具備可選擇的真空兼容性，空氣和窗口所產(chǎn)生的吸收和散射得以減弱。我們提供三種不同的型號滿足您的需求。EIGER 2 R集合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測器的*技術(shù)。小尺寸像素與直接探測相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以在倒易空間內(nèi)進(jìn)行精細(xì)的樣品測量。*的計(jì)數(shù)率性能確保精確測量高強(qiáng)度X射線。利用該探測器系列的巨大動態(tài)范圍，在零死時間同步讀/寫的狀態(tài)下可進(jìn)行長時間曝光。雙能量識別有助于微弱信號和長時間曝光下的深度背景抑制和改善信噪比。由于具備可選擇的真空兼容性，空氣和窗口所產(chǎn)生的吸收和散射得以減弱。我們提供三種不同的型號滿足您的需求。

2.核心優(yōu)勢

– 由于零背景噪音，出色的計(jì)數(shù)率和同時讀寫，

所以具有很高的動態(tài)范圍
– 直接檢測和小像素尺寸以獲得光斑分離

和最小背景重疊

– 雙能識別有助于抑制低能量和高能量的背景
– 免維護(hù)，易于集成，可選真空兼容性

3.應(yīng)用領(lǐng)域

– 大分子晶體學(xué)(MX)
– 化學(xué)晶體學(xué)
– 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/
WAXS）
– 粉末衍射（PXRD）
– X射線反射（XRR）

4.技術(shù)規(guī)格

EIGER2 R	500K	1M	4M
探測器模塊數(shù)量	1	1 x 2	2 x 4
有效面積：寬x高 [mm²]	77.2 x 38.6	77.1 x 79.7	155.1 X 162.2
像素大小 [μm²]	75 x 75
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel
能量閾值	2
閾值范圍（KeV）	3.5-30
計(jì)數(shù)率（cps/mm²）	6.9×10⁸
計(jì)數(shù)器深度（bit/threshold）	2×16
幀速率 [Hz]	50	100	20
采集模式	同時讀/寫，死區(qū)時間為零
圖像位深度（bit）	32
可選真空兼容	Yes
冷卻方式	風(fēng)冷	水冷	水冷
尺寸（WHD）[mm³]	100 x 140 x 93	114 x 133 x 240	235 x 235 x 372
重量 [kg]	1.8	4.7	15

**所有規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

北京優(yōu)納珂科技有限公司為您提供EIGER2 R-DECTRIS（德科特思）混合像素光子計(jì)數(shù)探測器的參數(shù)、價格、型號、原理等信息，EIGER2 R-DECTRIS（德科特思）混合像素光子計(jì)數(shù)探測器產(chǎn)地為瑞士、品牌為德科特思，型號為EIGER2 R，價格為1RMB，更多相關(guān)信息可電話咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務(wù)!