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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱英菲洛精密科技(蘇州)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2022/8/22 15:38:48
  • 訪問(wèn)次數(shù)400
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英菲洛精密科技(蘇州)有限公司坐落于蘇州吳中區(qū)太湖科技產(chǎn)業(yè)園研發(fā)大樓,專業(yè)從事中汽車零部件清潔度檢測(cè)設(shè)備、自動(dòng)清潔度清洗萃取設(shè)備、自動(dòng)清潔度顆粒分析系研發(fā)與銷售,我們不僅提供清潔度檢測(cè)分析設(shè)備,也可提供清潔度無(wú)塵室建設(shè)能力,清潔度培訓(xùn)服務(wù)能力。宗旨皆為汽車零部件客戶提供可靠清潔度解決方案。

英菲洛科技擁有自主研發(fā)團(tuán)隊(duì),零部件選型經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試,分析軟件符合國(guó)內(nèi)及標(biāo)準(zhǔn),設(shè)備出廠經(jīng)過(guò)嚴(yán)格測(cè)試,建設(shè)的清潔度潔凈室可提供第三方資格報(bào)告,可協(xié)助汽車零部件用戶完成客戶審核。

本公司在產(chǎn)品開發(fā)過(guò)程中嚴(yán)格按照ISO16232及VDA19清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行,現(xiàn)已*替代進(jìn)口清潔度檢測(cè)設(shè)備,服務(wù)各大汽車零部件客戶,為傳統(tǒng)汽車零部件及新能源汽車行業(yè)客戶提供整套一站式清潔度解決方案。

目前公司在汽車零部件清潔度檢測(cè)行業(yè)擁有完整的產(chǎn)品線,以及完善的銷售和服務(wù)體系,旨在向客戶提供完善的服務(wù)和整體的實(shí)驗(yàn)室解決方案。英菲洛承諾凡是購(gòu)買我們的產(chǎn)品,不管質(zhì)保期內(nèi)還是質(zhì)保期外都將提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品售后服務(wù)。

主要業(yè)務(wù):

1、汽車零部件清潔度檢測(cè)設(shè)備研發(fā)與銷售,提供全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng),自動(dòng)清潔度清洗制樣設(shè)備,清潔度檢測(cè)耗材,清潔度實(shí)驗(yàn)室規(guī)劃建設(shè),ISO16232/VDA19清潔度檢測(cè)培訓(xùn)。

2、根據(jù)用戶不同需要提供各類OLYMPUS、LEICA顯微鏡,并提供與顯微鏡配套的攝像裝置、圖像分析軟件、電動(dòng)掃描臺(tái)、以及顯微鏡相關(guān)產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)。

3、另代理材料檢測(cè)設(shè)備,可提供提供整體材料實(shí)驗(yàn)室解決方案:如金相分析設(shè)備,焊接熔深分析,鑄件孔隙率檢測(cè),硬度測(cè)試、元素分析、SEM掃描分析,涂層厚度檢測(cè),電子切片分析,自動(dòng)光學(xué)顯微鏡,端子線束分析儀等。


檢測(cè)儀,分析儀
奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡(jiǎn)單而快捷??梢郧逦貙?duì)焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視場(chǎng)光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。
奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡 產(chǎn)品信息

奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡

 奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng)。

用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡(jiǎn)單而快捷。可以清晰地對(duì)焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視場(chǎng)光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。

無(wú)應(yīng)力光學(xué)元件

UPLFLN-P無(wú)應(yīng)力物鏡得益于奧林巴斯*的設(shè)計(jì)和制造技術(shù),將內(nèi)部應(yīng)力降到了zui低。這就意味著更高的EF值,從而可以得到的圖像反差。

種類豐富的補(bǔ)色器和波長(zhǎng)板

提供了六種不同的補(bǔ)色器,用于測(cè)量巖石和礦物薄片的雙折射。測(cè)量光程差水平范圍從0到20λ。針對(duì)更方便的測(cè)量和高圖像反差, 可以使用B e r e k 和Senarmont補(bǔ)色器,它們能在整個(gè)視場(chǎng)內(nèi)改變光程差級(jí)別。

各種補(bǔ)償板的延遲測(cè)量范圍

補(bǔ)償板

測(cè)量范圍

主要用途

U-CTB厚型Berek

0-11,000nm

較大的延遲測(cè)量(R*>3λ)。(結(jié)晶、高分子、纖維、光彈性失真等)

U-CBE Berek

0-1,640nm

延遲測(cè)量(結(jié)晶、高分子、纖維、生物體組織等)

U-CSE Senarmont

0-546nm

延遲測(cè)量(結(jié)晶、生物體組織等)對(duì)比度增強(qiáng)(生物體組織等)

U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ

0-55nm

微小延遲測(cè)量(結(jié)晶、生物體組織等)
對(duì)比度增強(qiáng)(生物體組織等

U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ

0-20nm

U-CWE2 石英楔子

500-2,200nm

延遲的近似測(cè)量(結(jié)晶、高分子等)

*R表示延遲。
為提高測(cè)量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)
 

 


關(guān)鍵詞:偏光顯微鏡 顯微鏡
15168338725
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