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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡

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公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/4/3 18:07:47
訪問(wèn)次數(shù)421

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東，以拓展全國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項(xiàng)目部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。　　作為Thermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商，禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測(cè)試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國(guó)內(nèi)客戶，為高校、科研院所、政府機(jī)構(gòu)以及材質(zhì)工業(yè)過(guò)程控制等行業(yè)，提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學(xué)設(shè)備以及樣品前處理平臺(tái)等儀器產(chǎn)品，同時(shí)提供標(biāo)準(zhǔn)樣品和小型試驗(yàn)設(shè)備銷售、材料測(cè)試咨詢等綜合服務(wù)。　　從冶金鑄造和功能材料的開(kāi)發(fā)；船舶建造和石化裝備升級(jí)換代；到汽車零部件和電子電工的可靠性測(cè)試；環(huán)境檢測(cè)和工業(yè)品品質(zhì)的不斷提升，禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實(shí)實(shí)在在的作用。　　我們具備豐富的經(jīng)驗(yàn)，充分了解每個(gè)客戶的核心需求，并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們的*目標(biāo)。

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蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測(cè)模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測(cè)工作，EVO MA 15作為一款研究級(jí)掃描電鏡能夠?yàn)槟峁㈱*的視覺(jué)圖像和Z廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測(cè)模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類樣品的檢測(cè)工作，EVO MA 15作為一款研究級(jí)掃描電鏡能夠?yàn)槟峁﹝ui*的視覺(jué)圖像和zui廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡【技術(shù)參數(shù)】
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數(shù)：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm 35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)
工作室：365mm(φ)×275mm(h)
5軸優(yōu)中心自動(dòng)樣品臺(tái)：X=125mm Y=125mm Z=50mm T=-10°- 90°°R=360°
zui大試樣高度：145mm，zui大試樣直徑：250mm
系統(tǒng)控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
【主要特點(diǎn)】
能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動(dòng)大平臺(tái)
快抽真空
未來(lái)的保證，可升級(jí)在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇
掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量。