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FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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公司名稱上海禹重實業(yè)有限公司
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更新時間2023/3/29 21:37:09
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禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東，以拓展全國市場為主的進口儀器貿易和技術咨詢服務公司，下設三個事業(yè)部和一個中心，即分析儀器事業(yè)部、標耗備件事業(yè)部、大客戶項目部、以及中禹聯重檢測技術中心。　　作為Thermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商，禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測試前沿技術和產品帶給國內客戶，為高校、科研院所、政府機構以及材質工業(yè)過程控制等行業(yè)，提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學設備以及樣品前處理平臺等儀器產品，同時提供標準樣品和小型試驗設備銷售、材料測試咨詢等綜合服務。　　從冶金鑄造和功能材料的開發(fā)；船舶建造和石化裝備升級換代；到汽車零部件和電子電工的可靠性測試；環(huán)境檢測和工業(yè)品品質的不斷提升，禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實實在在的作用。　　我們具備豐富的經驗，充分了解每個客戶的核心需求，并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產品和服務是我們的*目標。

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FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司市場的眾多設備中的一員，Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發(fā)與生產的相關工作提供了更多的可能。

FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡產品信息

FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FEG-SEM）。作為FEI公司市場的眾多設備中的一員，Nova NanoSEM為用戶在納米研究、開發(fā)與生產的相關工作提供了更多的可能。
FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡的出現為那些非導電的以及有污染的納米材料研究和們帶來了新的表征手段。與NanoSEM同時發(fā)布的FEI Helix探測技術將浸入式透鏡和低真空掃描電鏡兩種技術成功地組合在一起，這在場發(fā)射掃描電鏡的歷*還是*次。在給用戶帶來超高分辨率的同時，還能在低真空環(huán)境下有效地抑制非導電材料的電荷積累效應。Nova NanoSEM的這種新技術還可以有效地抑制由前道樣品處理過程所引起的電子束誘導污染。
除了低真空條件下二次電子和背散射電子成像以外，Nova NanoSEM還具有浸入式透鏡的技術和FEI所*的使用電子束進行納米結構沉積的氣體化學技術，所有的這些特點使之成為納米結構與納米材料是研究領域中zui*、的掃描電鏡
技術參數
1. 分辨率
高真空模式 1.0nm @ 15kV
1.8nm @ 1kV
0.8nm @ 30kV(STEM探測器)
低真空模式 1.5nm @ 10kV(Helix探測器)
1.8nm @ 3kV(Helix探測器)
2. 加速電壓 200V - 30kV,連續(xù)可調
3. 電子束流范圍 0.3pA - 100nA, 連續(xù)可調
4. 樣品臺移動范圍
Nova NanoSEM 230: X=Y=50mm
Nova NanoSEM 430: X=Y=100mm
Nova NanoSEM 630: X=Y=150mm
主要特點
1. 超高分辨率Schottky場發(fā)射電子槍
2. wei一的超高分辨率低真空場發(fā)射掃描電鏡. 具有高真空和低真空(<200Pa)兩種真空模式.
3. 對容易污染、容易電荷積累的納米材料和納米器件進行觀察和分析
4. 無油真空系統(tǒng)
5. 可選配電子束曝光、電子束誘導沉積等納米設計/加工功能
6. FEI公司基于Windows XP的-xT用戶界面