環(huán)保在線>產(chǎn)品庫>環(huán)境檢測儀器>其它環(huán)境檢測儀器>氣象站>>超精密光學應(yīng)力測量設(shè)備

超精密光學應(yīng)力測量設(shè)備

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱上海昊量光電設(shè)備有限公司
品牌
型號
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/2/13 15:35:56
訪問次數(shù)169

產(chǎn)品標簽:

在線詢價收藏產(chǎn)品點擊查看電話

索取相關(guān)資料

公司介紹主營產(chǎn)品

上海昊量光電設(shè)備有限公司是目前國內(nèi)光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，也是近年來發(fā)展迅速的光電代理企業(yè)。除了擁有一批專業(yè)技術(shù)銷售工程師之外，還有擁有一支強大技術(shù)支持隊伍。我們的技術(shù)支持團隊可以為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等工作。不但為客戶提供適合的產(chǎn)品，而且為客戶提供完善的服務(wù)是我們始終秉承的理念！

自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)與產(chǎn)品經(jīng)銷，致力于引進國外很具*性與創(chuàng)新性的光電技術(shù)與可靠產(chǎn)品，為國內(nèi)前沿的科研與工業(yè)領(lǐng)域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關(guān)系。其代理品牌均處于相關(guān)領(lǐng)域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設(shè)備、精密光學元件等，所涉足的領(lǐng)域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。

昊量光電堅持“專業(yè)源自專注，專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細分市場，為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、*激光制造等領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。

秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀，昊量光電堅持以誠信為基石，憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值，實現(xiàn)各方共贏！

立足于光電產(chǎn)業(yè)，昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認可，不斷拓展業(yè)務(wù)領(lǐng)域的新邊疆，立志打造國際的代理服務(wù)品牌！

展開顯示更多內(nèi)容

產(chǎn)品簡介在線詢價

150AT全自動測量系統(tǒng)全自動應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品

超精密光學應(yīng)力測量設(shè)備產(chǎn)品信息

150AT全自動測量系統(tǒng)

全自動應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)

150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實驗室科研探索測量光學組件應(yīng)力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測。

150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)可以根據(jù)客戶需求選擇設(shè)置，使得測量更有針對性（高精度/大范圍相位延遲量），系統(tǒng)有著測量速度的同時也具有的測量分辨能力（<1 mm="" grid="" spacing="">等設(shè)計來幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測量需求。

產(chǎn)品特點

自動X/Y位移平臺掃描
二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應(yīng)力分布測量結(jié)果
臺式整機設(shè)計組裝
靈活位移平臺設(shè)計，滿足個性化定制需求
強大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶界面

參數(shù)

	高精度測量系統(tǒng)選項	大范圍相位延遲量測量選項
相位延遲量范圍:	0.005 to 120+ nm	0.005 to 300+ nm
相位延遲量測量分辨率/ 重復(fù)精度^{1, 2, 3}:	0.001 nm / ± 0.008 nm	0.0 1 nm / ± 0.015 nm
角度測量分辨率 / 重復(fù)精度¹:	0.01o / ± 0.05°	0.01o / ± 0.07°
測量速率 / 時間⁴:	up to 100 pps / sample size dependent
尺寸:	910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)
光源波長⁵:	Various (632.8 nm standard)
測量光斑⁶:	Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 µm)
內(nèi)置測量調(diào)制頻率:	PEMLabs^TM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz
解調(diào)分析技術(shù):	Hinds Instruments Signaloc^TM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card
測量單位:	nm (retardation), ° (angle)