Contracx-200光學(xué)輪廓儀提供了的特性，可定制的選擇上乘的混合，并易于使用的*佳級別，快速，準(zhǔn)確，可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量。該量具能力，小足跡系統(tǒng)提供了不妥協(xié)的2D/3D高分辨率測量能力，使用更大的FOV 5 MP數(shù)碼相機(jī)和新的機(jī)動(dòng)XY舞臺(tái)。由于擁有****的Z軸分辨率和精度，Contracx-200提供了Bruker公司專有的白光干涉測量(WLI)技術(shù)的所有業(yè)界的優(yōu)勢，而不受傳統(tǒng)共焦顯微鏡和標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)輪廓儀的限制。

不妥協(xié)，*好的等級計(jì)量學(xué)

基于40多年的磚利WLI**，Con弧X-200光學(xué)輪廓儀顯示了低噪聲、高速、**和**的結(jié)果，這是定量計(jì)量學(xué)所需要的。通過使用多個(gè)目標(biāo)和集成的特征識別，特征可以在不同的視域和亞納米垂直分辨率上進(jìn)行跟蹤，為質(zhì)量控制和過程監(jiān)控在非常多樣化的行業(yè)中的應(yīng)用提供獨(dú)立的結(jié)果。Contracx-200在所有表面情況下都是穩(wěn)健的，反射率從0.05%到99%不等.新的硬件功能包括**的舞臺(tái)設(shè)計(jì)更大的拼接能力和一個(gè)5MP相機(jī)與1200x1000的測量陣列，以降低噪音，更大的視場，和更高的橫向分辨率。

*廣泛的應(yīng)用分析能力

使用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision 64用戶界面，Contracex-200為實(shí)驗(yàn)室和工廠樓層的生產(chǎn)率提供了數(shù)千種定制分析。Bruker的新的通用掃描干涉測量(USI)測量模式提供了全自動(dòng)的、自感知的表面紋理、優(yōu)化的信號處理，同時(shí)提供了對正在分析的表面形貌的***和真實(shí)的計(jì)算。該系統(tǒng)的新相機(jī)提供的更大的視場和新的機(jī)動(dòng)XY級提供的靈活性使更多的靈活性和更高的吞吐量范圍廣泛的樣品和部件。硬件和軟件結(jié)合在一起，提供流線型的*高光學(xué)性能，超過可比的計(jì)量能力。