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導(dǎo)體粉末電阻測試儀

參考價	￥ 20000
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司
品牌其他品牌
型號BCD-310
所在地北京市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時間2024/8/19 16:08:34
訪問次數(shù)156

產(chǎn)品標簽:

雙極板材料四探針測試儀雙極板材料四探針低阻測試儀四探針粉末電導(dǎo)率測試儀四探針導(dǎo)電電阻測試儀四探針法粉末電導(dǎo)率測試儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司是一家技術(shù)型企業(yè)。專業(yè)從事檢測、力學(xué)、實驗室設(shè)備、環(huán)境儀器等檢測儀器研究、開發(fā)、生產(chǎn)及銷售為一體的企業(yè)。主營產(chǎn)品有過濾器完整性檢測儀，toc總有機碳分析儀，介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀，電壓擊穿試驗儀，絕緣電阻測試儀等。公司擁有專業(yè)技術(shù)隊伍和營銷隊伍，產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定，性價比高。本公司成立的初衷就是希望通過我們豐富的經(jīng)驗給客戶提供比產(chǎn)品本身更有價值的東西，來幫助客戶選擇儀器，必要時來指導(dǎo)客戶操作儀器。在這一點上百川在市場上受到廣大用戶及經(jīng)銷商的歡迎和好評。本公司所銷售的儀器，都是經(jīng)過一段時間的市場考驗后，由我們的工程師進行評估后才決定是否進行推薦銷售。所以這里每一款產(chǎn)品都是我們?yōu)槟艏氝x的。在市場競爭日趨激烈的今天，價格因素往往起到了決定性作用，但是我們堅信，只有高質(zhì)的產(chǎn)品才能給客戶解決工作中實際問題，只有高質(zhì)的服務(wù)才能讓客戶購買正確的檢測儀器，購買后沒有后顧之憂。本著誠信、服務(wù)、務(wù)實、創(chuàng)新的經(jīng)營理念，“提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)”，在制藥、化工、環(huán)保、科研、大學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域開拓了廣泛的市場，贏得了廣大用戶的支持和信賴。在今后的發(fā)展中，我們將一如既往地把國內(nèi)外的儀器設(shè)備介紹并提供給國內(nèi)的用戶，孜孜追求，不懈努力，不斷提高服務(wù)水平，為提升用戶的檢測水平和科研水平貢獻各自的綿薄之力，與廣大用戶共同享受科技成果，在互利協(xié)作中共同進步。我們擁有充滿活力的高素質(zhì)銷售隊伍和技術(shù)全面、經(jīng)驗豐富的售后服務(wù)隊伍，這既是我們公司發(fā)展的源泉，也是我們向客戶提供良好服務(wù)的保證?？蛻魧镜某浞中刨嚭投αχС质俏覀冑囈园l(fā)展的基礎(chǔ)，北京百川宏宇交通設(shè)施有限公司將與廣大用戶一起努力、一起進步！

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四探針電阻測定儀，toc總有機碳在線分析儀，完整性測試儀，電子拉力機，介電常數(shù)儀，電壓擊穿試驗儀

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	國產(chǎn)

導(dǎo)體粉末電阻測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電導(dǎo)率單位自動選擇，BCD-310 材料電導(dǎo)率測試儀自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成圖表和報表。

導(dǎo)體粉末電阻測試儀產(chǎn)品信息

導(dǎo)體粉末電阻測試儀導(dǎo)體粉末電阻測試儀

導(dǎo)體材料電阻率測試儀GB/T 11073硅片徑向電阻率變化的測量方法提要探針與試樣壓力分為小于0.3N及0.3 Nˉ0.8N兩種。以下文件中的條款通過本標準的引用商成為本標準的條款。但凡注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括訂正的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本適用于本標準。GB/T 1552硅、儲單晶電阻率測定直排四探針法樣品臺和操針架樣品臺和探針架應(yīng)符合GB/T152 中的規(guī)定。樣品臺上應(yīng)具有旋轉(zhuǎn)360"的裝置。其誤差不大于士5"，測量裝置測量裝置的典型電路叉圖1，范圍本標準規(guī)定了用直排四探針測量硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的方法。本標準適用于測量直徑大于15.9mm的由外延、擴散、離子注人到硅片表面上或表面下形成的薄層的平均薄層電阻。硅片基體導(dǎo)電類型與被測薄層相反。適用于測量厚度不小于0.2 μm的薄層，方塊電阻的測量范圍為10A-5000n.該方法也可適用于更高或更低照值方塊電阻的測量，但其測量準確度尚未評估。使用直排四探針測量裝置、使直流電流通過試樣上兩外探件，測量兩內(nèi)操針之間的電位差，引人與試樣幾何形軟有關(guān)的修正因子，計算出薄層電阻。覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.

采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.