鍍層測(cè)厚工作更簡(jiǎn)單：
• 堅(jiān)固耐用的鍍層和成分分析設(shè)備，可在工廠環(huán)境條件下獲得重復(fù)精度很高的測(cè)試結(jié)果。
• 滿足標(biāo)準(zhǔn)ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987。
• 元素測(cè)試范圍Ti (22) 和 U (92)。
• 鎢靶材微聚焦X射線管，電壓50KV，50W可調(diào)，滿足各種鍍層測(cè)試應(yīng)用。
• 高靈敏度正比計(jì)數(shù)探測(cè)器。
• 多準(zhǔn)直器為測(cè)試不同尺寸的樣品提供便利。
• 無(wú)標(biāo)樣法用于厚度和材質(zhì)分析，可使用少量類(lèi)型標(biāo)準(zhǔn)片節(jié)約標(biāo)樣成本。
• 配置常規(guī)分析屏幕顯示所需的配置。
• 樣品室可以根據(jù)樣品的尺寸和形狀選擇開(kāi)槽式和封閉式。
• 固定式樣品臺(tái)適用于單點(diǎn)測(cè)試，自動(dòng)樣品臺(tái)適用于多點(diǎn)或多樣品測(cè)試。
• 激光聚焦和選配的自動(dòng)聚焦功能確保樣品測(cè)試的簡(jiǎn)便性和重復(fù)性。
• 選配的可變焦系統(tǒng)，提供自動(dòng)變焦功能。
的軟件功用于日程分析和數(shù)據(jù)處理：
• 根據(jù)應(yīng)用程序推薦校準(zhǔn)條件且可自由更改條件設(shè)定。
• 批次測(cè)量數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能包含COV、值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差等質(zhì)量控制參數(shù)。
• 樣品譜圖峰位識(shí)別功能，樣品未知元素定性功能。
• 基于統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)創(chuàng)建測(cè)試報(bào)告。
X-ray組件防撞保護(hù)功能：
• 超大可視窗口用于查看樣品位置及測(cè)試頭位置。
• 影像視窗可觀察樣品位置及X射線探頭高度。
• Z軸防撞保護(hù)功能--測(cè)試頭碰撞樣品后Z軸鎖定。
選配功能：
• 配置廣域相機(jī)即便測(cè)試大體積或復(fù)雜樣品時(shí)也能方便的選擇測(cè)試位置。
• 選配圖像處理軟件可用于精準(zhǔn)定位識(shí)別相同幾何形狀及相同凹凸度的樣品。
• 選配操縱桿用于樣品定位。
• 選配鈷二次濾波器優(yōu)化特定應(yīng)用的光譜評(píng)估。
質(zhì)保期：
標(biāo)準(zhǔn)一年原廠保修
