三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)：
1．采用LCD中英文顯示觸摸式溫濕度控制器，操作簡單，程式編輯容易。
2．可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況相關(guān)資料、設(shè)定程式曲線、開機(jī)注意事項(xiàng)、機(jī)器維護(hù)保養(yǎng)方法。
3.運(yùn)轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送風(fēng)機(jī)送風(fēng)循環(huán)，溫度分布均勻。
5．可加裝記錄器，將溫濕度曲線記錄。
6．附R232接口，可電腦連接操作。
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法有：GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)；GB/T2423.22-2002溫度變化；GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估等等。
內(nèi)尺寸可選擇：寬36*高35*深40cm；二：寬50*高40*深40cm；三：寬60*高50*深50cm；四：寬70*高60*深60cm；五：寬100*高100*深100cm。
溫度范圍（范圍內(nèi)任選）可以選擇，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高溫影響價(jià)格不大，所以般默認(rèn)為150度限高溫。
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:10秒以內(nèi),溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min。
溫度波動度：±0.5℃;溫度偏差：±2℃
三箱溫度沖擊試驗(yàn)箱用途：
該產(chǎn)品適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二箱式：上部為高溫箱，下部為低溫箱，兩箱之間由樣品架連結(jié)，經(jīng)氣動系統(tǒng)在兩箱間切換。
三箱式：該沖擊試驗(yàn)箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試，半導(dǎo)體，電子線路板，金屬化學(xué)，材料等測試設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗(yàn)箱的特點(diǎn)是：試件（待測品）靜止不動，使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便。
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