我們已經(jīng)知道葉面積指數(shù)測定對于植物生長的重要性，因此，如何測定葉面積指數(shù)就是一個重要的課題。葉面積指數(shù)測定的方法可以分為直接方法和間接方法，其中直接方法是一種傳統(tǒng)的測定方式，有一定破壞性。而間接方法又可以分為點(diǎn)接觸法、消光系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)公式法、遙感方法、光學(xué)儀器法。主要是用一些測量參數(shù)或用光學(xué)儀器得到葉面積指數(shù)，測量方便快捷，但仍需要用直接方法所得結(jié)果進(jìn)行校正。

 

    1、傳統(tǒng)的格點(diǎn)法和方格法。

    2、描形稱重法：在一種特定的坐標(biāo)紙上，用鉛筆將待測葉片的輪廓描出并依葉形剪下坐標(biāo)紙，稱取葉形坐標(biāo)紙重量，按公式計算葉面積.

    3、儀器測定法： 葉面積測定儀可以分成兩種類型，分別通過掃描和拍攝圖像獲取葉面積。掃描型葉面積儀主要由掃描器（掃描相機(jī)） 、數(shù)據(jù)處理器、處理軟件等組成，可以獲得葉片的面積、長度、寬度、周長、葉片長度比和形狀因子以及累積葉片面積等數(shù)據(jù)。此外，還有使用臺式掃描儀和專業(yè)圖像分析軟件測定的方法. 圖像處理型葉面積儀由數(shù)碼相機(jī)、數(shù)據(jù)處理器、處理分析軟件和計算機(jī)等組成，可以獲取葉片面積、形狀等數(shù)據(jù)。

 

    1、點(diǎn)接觸法

    點(diǎn)接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目，用以下公式計算：

    式中，LA I為葉面積指數(shù)，n為探針接觸到的葉片數(shù)，G （θ） 為投影函數(shù)，θ為天頂角.

當(dāng)天頂角為57.5°時，假設(shè)葉片隨機(jī)分布和葉傾角橢圓分布，則冠層葉片的傾角對消光系數(shù)K的影響最小，此時采用32.5°傾角刺入冠層，會得出較準(zhǔn)確的結(jié)果，用以下公式計算：

    點(diǎn)接觸法是由測定群落蓋度的方法演進(jìn)而來的,在小作物L(fēng)A I的測量中較準(zhǔn)確，但在森林中應(yīng)用比較困難，主要是由于森林植物樹體高大以及針葉樹種中高密度的針葉影響了測定。

    2、消光系數(shù)法

    該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來計算葉面積指數(shù)，前提條件是假設(shè)葉片。隨機(jī)分布和葉傾角呈橢圓分布，由Beer - Lambert定律知：

    

    式中： LA I為葉面積指數(shù)，Q0 和Q 分別為冠層上下部的太陽輻射，k為特定植物冠層的消光系數(shù)，一般在0.13～1.15變化，其計算公式為：

   

    其中x為葉傾角分布參數(shù)，θ為天頂角. 消光系數(shù)k與植物種類、天頂角、葉片傾角以及非葉生物量有關(guān)，在確定時常需要根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式獲得，如關(guān)德新等在研究長白山針闊葉混交林時，利用觀測結(jié)果反推消光系數(shù)k值. 該方法中消光系數(shù)如果能夠準(zhǔn)確地加以測量，那么得出的葉面積指數(shù)也較準(zhǔn)確 .

    3、經(jīng)驗(yàn)公式法

    經(jīng)驗(yàn)公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗(yàn)公式來計算. 研究表明：葉面積指數(shù)與胸徑平方和樹高的乘積有顯著的指數(shù)相關(guān)性，邊材面積與葉面積具有很高的相關(guān)性，林冠開闊度與葉面積指數(shù)呈較好的指數(shù)關(guān)系 . 經(jīng)驗(yàn)公式法的優(yōu)點(diǎn)在于測量參數(shù)容易獲取，對植物破壞性小，效率較高，然而經(jīng)驗(yàn)公式具有特定性，并不適合于任何樹種，因而該法的應(yīng)用具有一定的局限性.

    4、遙感方法

    衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑 . 主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計模型法，主要是將遙感圖像數(shù)據(jù)如歸一化植被指數(shù)NDV I、比植被指數(shù)RV I和垂直植被指數(shù)PV I與實(shí)測LA I建立模型.這種方法輸入?yún)?shù)單一，不需要復(fù)雜的計算，因此成為遙感估算LA I的常用方法. 但不同植被類型的LA I與植被指數(shù)的函數(shù)關(guān)系會有所差異，在使用時需要重新調(diào)整、擬合. 另一種是光學(xué)模型法，它基于植被的雙向反射率分布函數(shù)是一種建立在輻射傳輸模型基礎(chǔ)上的模型，它把LA I作為輸入變量，采用迭代的方法來推算LA I.這種方法的優(yōu)點(diǎn)是有物理模型基礎(chǔ)，不受植被類型的影響，然而由于模型過于復(fù)雜，反演非常耗時,且反演估算LA I過程中有些函數(shù)并不總是收斂的 .

    5、光學(xué)儀器法

    光學(xué)儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法.

    ⑴基于輻射測量的方法. 該方法是通過測量輻射透過率來計算葉面積指數(shù)，主要儀器有： LA I -2000、AccuPAR、Sunscan、Sunfleck cep tometer Demon和TRAC (Tracing Radiation and Architecture of Cano2p ies）等. 這些儀器主要由輻射傳感器和微處理器組成，它們通過輻射傳感器獲取太陽輻射透過率、冠層空隙率、冠層空隙大小或冠層空隙大小分布等參數(shù)來計算葉面積指數(shù). 前5種儀器都假設(shè)均一冠層、葉片隨機(jī)分布和橢圓葉角分布，在測量葉簇生冠層時有困難. 而TRAC通過測量集聚指數(shù)，能有效地解決集聚效應(yīng)的問題，使得葉面積指數(shù)計算可以不用假設(shè)葉片在空間隨機(jī)分布，減小了有效葉面積指數(shù)與現(xiàn)實(shí)葉面積指數(shù)之間計算的誤差. 基于輻射測量儀器的優(yōu)點(diǎn)是測量簡便快速，但容易受天氣影響，常需要在晴天下工作.

    ⑵基于圖像測量的方法. 該方法是通過獲取和分析植物冠層的半球數(shù)字圖像來計算葉面積指數(shù)，儀器主要有CI - 100、W INSCANOPY、HemiView、HCP (Hemispherical Canopy Photography）等，這些圖像分析系統(tǒng)通常由魚眼鏡頭、數(shù)碼相機(jī)、冠層圖像分析軟件和數(shù)據(jù)處理器組成. 其原理是通過魚眼鏡頭和數(shù)碼相機(jī)獲取冠層圖像，利用軟件對冠層圖像進(jìn)行分析，計算太陽輻射透過系數(shù)、冠層空隙大小、間隙率參數(shù)等，進(jìn)而推算有效葉面積指數(shù).基于圖像測量的儀器和方法測量精度較高，速度則較基于輻射測量的儀器慢，且常需要對圖像進(jìn)行后期處理. 此外，測量時需要均一的光環(huán)境，如黎明、黃昏、陰天等，晴天會使魚眼鏡頭低估或者高估太陽輻射或散射。