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IGBT動態(tài)參數測試儀測試方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9: 200 及GB4023-83 等相關標準。采用計算機記錄測試結果，并轉...

動態(tài)參數測試系統該套測試設備主要可測試以下參數：適用于電流不超過1500A、電壓不超過3500V的IGBT開關時間的測試。設備的相關電壓、電流等參數可根據客戶要...

IGBT功率器件動態(tài)參數測試儀主機可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的測試頭。主機...

IGBT靜態(tài)測試儀作為精密儀器引進項目，系統嚴格按照產品之標準，全部選用優(yōu)質可靠的元器件。系統嚴格按照檢驗標準進行測試檢驗，確保系統的穩(wěn)定性和可靠性。所使用的各...

IGBT動態(tài)參數測試系統該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過特制測試夾具的連接，實現模塊的動態(tài)...

華科智源專業(yè)提供IGBT測試系統，IGBT動態(tài)參數測試儀，IGBT模塊測試系統，提供IGBT單管及模塊的動靜態(tài)測試儀，雪崩能量測試儀。該設備用于功率半導體模塊（...

華科智源大功率IGBT測試系統設備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設計，產線封裝測試及新能源汽車，風力發(fā)電，地鐵交通等領域的大功率器件及模塊測試，...

華科智源大功率IGBT測試系統設備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設計，產線封裝測試及新能源汽車，風力發(fā)電，地鐵交通等領域的大功率器件及模塊測試，...

華科智源大功率IGBT測試系統設備主要針對IGBT及MOS管的測試儀，適用于芯片設計，產線封裝測試及新能源汽車，風力發(fā)電，地鐵交通等領域的大功率器件及模塊測試，...