產(chǎn)品介紹

華科智源專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體測試設(shè)備，提供功率器件參數(shù)測試儀，IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)，功率期間參數(shù)測試，功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，大功率IGBT到小功率管MOS的測試， 包括動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試，雪崩能量測試以及熱阻測試， 

功率器件參數(shù)測試儀-半導(dǎo)體分立器件HUSTEC-2000是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管圖示系統(tǒng)，本系統(tǒng)可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據(jù)客戶的實際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析，IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應(yīng)用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測試時間是6to20ms,通常上百個數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入EXCEL等格式進(jìn)一步分析研究，是一款高效多功能的半導(dǎo)體測試設(shè)備。

本系統(tǒng)使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機(jī)界面操作，即可完成測試。并可以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以EXCEL和WORD的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護(hù)功能，門極過電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設(shè)備狀態(tài)和測試結(jié)果提供了可靠地保證。

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曲線測試種類

  ID vs. VDS at range of VGS            ID vs. VGS at fixed VDS

  IS vs. VSD                                        RDS vs. VGS at fixed ID

  IDSS vs. VDS                                   RDS vs. ID at several VGS

  HFE vs. IC                                        BVCE（O,S,R,V） vs. IC

  BVEBO vs. IE                                   BVCBO vs. IC

  VCE（SAT） vs. IC                          VBE（SAT） vs. IC

  VBE（ON） vs. IC                           VCE（SAT） vs. IB

系統(tǒng)特點(diǎn)

  1.圖形顯示功能                            

  2.局部放大功能

  3.程序保護(hù)大電流/電壓,以防損壞          

  4.品種繁多的曲線

  5.可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對應(yīng)                      

  6.增加線性或?qū)?shù)

  7.可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱            

  8.保存和重新導(dǎo)入入口程序

  9.保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象                  

  10.曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL

  11.曲線程序和數(shù)據(jù)自動存入EXCEL            

  12.程序保護(hù)大電流/電壓,以防損壞

技術(shù)要求

  工作溫度：25℃--40℃

  貯存溫度: -15℃--50℃

  工作濕度：45%--80%

  貯存濕度：10%--90%

  工作電壓：200v--240v

  電源頻率：47HZ--63HZ

  接地要求：供電電源應(yīng)良好接地。

  通信接口：RS232 USB

  系統(tǒng)功耗：<150w

  設(shè)備尺寸：450mm×570mm×280mm

測試功能

 HK2005測試系統(tǒng)是一套高速多用途半導(dǎo)體分立器件智能測試系統(tǒng)，它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測試能力，可真實準(zhǔn)確測試下列各種大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件華科智源專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體測試設(shè)備，提供功率器件參數(shù)測試儀，功率器件參數(shù)測試儀-半導(dǎo)體分立器件HUSTEC-2000，功率期間參數(shù)測試，功率半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，大功率IGBT到小功率管MOS的測試， 包括動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試，雪崩能量測試以及熱阻測試，