束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測(cè)定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
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詳細(xì)摘要： 測(cè)量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測(cè)量，這需要一個(gè)測(cè)角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強(qiáng)烈的強(qiáng)度降低。
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詳細(xì)摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細(xì)摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
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詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺(tái)。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
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詳細(xì)摘要： 靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口，便于連接到許多...
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詳細(xì)摘要： 低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動(dòng)化?？蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品，高達(dá)156毫米硅磚，結(jié)果可...
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詳細(xì)摘要： MDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測(cè)量參數(shù)，如載流子壽命、光...
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詳細(xì)摘要： PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。
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詳細(xì)摘要： 用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的硅材料。
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詳細(xì)摘要： 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國Fra...
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詳細(xì)摘要： 用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferC...
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詳細(xì)摘要： SDT 型旋轉(zhuǎn)滴界面張力儀憑借的測(cè)量精度、寬廣的測(cè)量范圍、較低的樣本量需求和簡易的樣品預(yù)處理方式，成為乳液和表面活性劑研發(fā)和質(zhì)控工作的理想解決工具。這款張力儀能...
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詳細(xì)摘要： 表面活性劑作為乳化劑的作用是基于其能降低互不相溶兩相間的界面張力的速度。其應(yīng)用范圍能涵蓋非常快到非常慢的加工過程，這使得一次測(cè)量就能測(cè)量從動(dòng)態(tài)到平衡態(tài)的界面張力...
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詳細(xì)摘要： ，X射線衍射儀是材料學(xué)相關(guān)領(lǐng)域基礎(chǔ)且的分析手段，具備無損、樣品制備簡單等優(yōu)勢(shì)。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測(cè)角儀、樣品臺(tái)、光路系統(tǒng)、探測(cè)器五大部分組成...
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詳細(xì)摘要： 氣泡壓力張力儀 – BP100能高精度測(cè)量動(dòng)態(tài)表面張力。通過對(duì)表面活性劑遷移特性的可靠分析，來優(yōu)化噴涂、鍍膜、印刷及去污等高速進(jìn)程。
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詳細(xì)摘要： 力學(xué)法表面張力儀–K20是一臺(tái)精確測(cè)量表面張力和界面張力的半自動(dòng)儀器，性能穩(wěn)定可靠。環(huán)法和板法作為主要張力測(cè)試方法，K20為表面活性劑溶液及界面加工的日常質(zhì)量保...
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詳細(xì)摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）----熒光光譜儀器的leader，提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。 ...
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詳細(xì)摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術(shù)）作為熒光光譜儀，可以提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種耦聯(lián)技術(shù)的解決方案。HORIBA Sc...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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