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2025
07-212025
07-172025
07-11工業(yè) CT 測(cè)試-無(wú)損檢測(cè)之實(shí)用技術(shù)
工業(yè)CT測(cè)試-無(wú)損檢測(cè)之實(shí)用技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)制造中，產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的質(zhì)量把控往往比表面檢測(cè)更具挑戰(zhàn)性。傳統(tǒng)的破壞性檢測(cè)不僅成本高，還會(huì)錯(cuò)失對(duì)關(guān)鍵細(xì)節(jié)的觀察——而工業(yè)CT測(cè)試技術(shù)的出現(xiàn)，改變了這一局面。作為...2025
07-082025
06-30PCB板焊接質(zhì)量的關(guān)鍵：IMC測(cè)試
PCB板焊接質(zhì)量的關(guān)鍵：IMC測(cè)試在電子產(chǎn)品的可靠性鏈條中，PCB板的焊點(diǎn)質(zhì)量堪稱“隱形基石”。很多時(shí)候，產(chǎn)品的早期失效、接觸不良等問(wèn)題，都能追溯到焊點(diǎn)界面那層薄薄的IMC（界面合金共化物）。優(yōu)爾鴻信...2025
06-262025
06-233D 掃描技術(shù)從原理到應(yīng)用的全場(chǎng)景指南
3D掃描技術(shù)從原理到應(yīng)用的全場(chǎng)景指南一、3D掃描的本質(zhì)是什么？在工業(yè)領(lǐng)域，它是逆向工程的“神筆”——掃描一個(gè)磨損的機(jī)械零件，就能快速生成CAD模型用于修復(fù)；在醫(yī)療場(chǎng)景，它是定制化的“量尺”——掃描患者...2025
06-132025
06-04信號(hào)完整性量測(cè)技術(shù)研究與應(yīng)用實(shí)踐
摘要隨著電子系統(tǒng)向高速化、集成化發(fā)展，信號(hào)完整性(SignalIntegrity,SI)已成為影響系統(tǒng)性能的核心要素。本文基于優(yōu)爾鴻信檢測(cè)之技術(shù)文檔，系統(tǒng)闡述信號(hào)完整性的基礎(chǔ)理論、常見(jiàn)計(jì)算機(jī)接口的信號(hào)...2025
05-272025
05-22玻璃化轉(zhuǎn)變溫度檢測(cè)：高分子材料的“溫度性格分水嶺”
玻璃化轉(zhuǎn)變溫度檢測(cè)：高分子材料的“溫度性格分水嶺”在高分子材料的世界中，玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)，它決定了材料從硬脆的玻璃態(tài)轉(zhuǎn)變?yōu)槿彳浀母邚棏B(tài)的臨界溫度。無(wú)論是塑料制品、橡膠密封件，還是涂...2025
04-18機(jī)械沖擊試驗(yàn)技術(shù)指南：從基礎(chǔ)到實(shí)踐
機(jī)械沖擊試驗(yàn)技術(shù)指南：從基礎(chǔ)到實(shí)踐一、什么是機(jī)械沖擊試驗(yàn)？機(jī)械沖擊試驗(yàn)是通過(guò)模擬產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用或裝卸過(guò)程中可能遭遇的瞬間高強(qiáng)度沖擊，評(píng)估其結(jié)構(gòu)完整性、功能穩(wěn)定性和可靠性的一種測(cè)試方法。例如，手機(jī)從桌...2025
04-142025
04-08超聲波C-SAM測(cè)試：電子制造領(lǐng)域的“無(wú)損透視眼”
在電子制造行業(yè)，芯片封裝分層、PCB內(nèi)層裂紋、LED氣隙等隱蔽缺陷如同“隱形殺手”，輕則導(dǎo)致產(chǎn)品失效，重則引發(fā)重大安全事故。如何在不破壞產(chǎn)品的前提下精準(zhǔn)定位這些缺陷？超聲波C-SAM測(cè)試技術(shù)憑借其“無(wú)...2025
04-01芯片開(kāi)封測(cè)試：拆解芯片黑匣子的“實(shí)用技術(shù)”
一、芯片是個(gè)“黑匣子”？開(kāi)封測(cè)試來(lái)“破案”想象你有一部手機(jī)，突然某天屏幕顯示異常，但維修店卻說(shuō)“芯片壞了”。這時(shí)候，你可能會(huì)好奇：芯片到底哪里壞了？為什么不能直接“看”到問(wèn)題？答案就是芯片開(kāi)封測(cè)試！芯...2025
03-272025
03-20低溫環(huán)境試驗(yàn)：保障產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵技術(shù)
低溫環(huán)境試驗(yàn)：保障產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵技術(shù)解析在極寒氣候頻發(fā)的今天，電子產(chǎn)品在北極圈罷工、汽車在雪地?zé)o法啟動(dòng)等故障屢見(jiàn)不鮮。低溫環(huán)境試驗(yàn)作為環(huán)境可靠性測(cè)試的核心環(huán)節(jié)，已成為航空航天、汽車制造、醫(yī)療設(shè)備等行...2025
03-17USB2.0眼圖檢測(cè)：高速信號(hào)質(zhì)量的“心電圖”解析
USB2.0眼圖檢測(cè)：高速信號(hào)質(zhì)量的“心電圖”解析在USB2.0高速傳輸（480Mbps）場(chǎng)景中，信號(hào)質(zhì)量直接決定設(shè)備穩(wěn)定性與兼容性。眼圖檢測(cè)作為硬件工程師的“診斷利器”，通過(guò)量化信號(hào)完整性，幫助開(kāi)發(fā)...2025
03-14信號(hào)完整性測(cè)試：從理論到實(shí)踐的5個(gè)關(guān)鍵步驟
信號(hào)完整性測(cè)試：從理論到實(shí)踐的5個(gè)關(guān)鍵步驟一、信號(hào)完整性的本質(zhì)：為什么它決定了電子產(chǎn)品的生死？信號(hào)完整性（SI）的核心，是確保電子系統(tǒng)中信號(hào)從發(fā)射端到接收端的波形質(zhì)量和時(shí)序關(guān)系不因傳輸路徑的物理特性而...2025
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