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涂層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要： MP0涂層測(cè)厚儀無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。在被測(cè)件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生大的改變時(shí)，單點(diǎn)校準(zhǔn)功能可修正這些影響并在選定的測(cè)量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：MP0 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2022-08-22 參考價(jià)：¥ 30 在線留言 -
鍍層測(cè)厚儀 詳細(xì)摘要： EXF-5700CX鍍層測(cè)厚儀精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
產(chǎn)品型號(hào)：EXF-5700CX 所在地：深圳市 更新時(shí)間：2022-08-22 參考價(jià)：¥ 30 在線留言