1、產品型號

型號:  Ux-320 鍍層膜厚檢測儀

2.1 儀器概述

Ux-320 鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是華唯公司經過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；華唯*的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

2.2 性能優(yōu)勢

1.*的VisualFp基本參數法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行測試

2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量，開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術

3.軟件可根據樣品材質、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度

4.業(yè)內*提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線

5.金屬鍍層測厚儀三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害

6.儀器外部對樣品微調設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性

7.可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求

8.業(yè)內*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用

9.軟件對多次測試結果進行統(tǒng)計分析功能

10.業(yè)內*家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF

2.3 儀器技術指標 

1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

2、樣品腔尺寸：300*360*100mm；

3、zui低檢測厚度：1nm

4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定）

5、zui多測試層數：10層

6、測量時間 ：30-200s ( 系統(tǒng)自動調整 )

7、*分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細參數說明

8、準直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換

9、濾光片：5種濾光片自動切換

10、CCD觀察：260萬像素高清CCD

11、樣品微動范圍：XY15mm

12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz

13、額定功率：350W

14、重量：約45Kg

15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃

16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結露）

17、穩(wěn)定性:多次測量重復性誤差小于0.1%

3.1 探測系統(tǒng)

類型：AMPTEK Si-PIN X-123(整套原裝美國進口)

Be窗­­­：1mil(0.0254mm)

*分辨率：145±5eV

系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1

能量響應范圍：1keV — 40keV

*計數率：5000cps

3.2 X光管

型號：科頤維(國產)

電    壓: 0 ~ 50 kV

zui大電流: 1.0 mA

zui大功率: 50 W

燈絲電壓: 2.0V

燈絲電流: 1.7 A

射線取出角：12°

靶    材：Mo

Be窗厚度：400um

3.3高壓電源 

型號：Spellman(美國*)

輸入電壓: DC +24V±10%

輸入電流：4.0A（zui大）

輸出電壓: 0 -50KV &1mA

zui大功率：50W

電壓調整率：0.01% （從空載到滿載）

電流調整率：0.01% （從空載到滿載）

紋波系數：0.1% （P-P值）

8小時穩(wěn)定性：≤0.05%