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詳細摘要： 熱膨脹儀 L75大大拓展了熱分析的應用范圍。該系統(tǒng)可以在溫度從室溫到1100/1400/1800 ℃.

詳細摘要： 光學法熱膨脹儀 L74 Optical*的水平式設計能夠滿足絕大多數(shù)嚴苛的應用。特別固液適配器可以實現(xiàn)固體、液體和固液相變轉變的體膨脹測量。

詳細摘要： 四樣品熱膨脹儀 L75 PT Quattro配備四個獨立的膨脹測量傳感器，可以在同時測量四個單獨的樣品，或者一個參考標準樣和三個獨立的樣品。

詳細摘要： LINSEIS L75/120LT熱膨脹儀可以選擇任意的濕度測量室，以控制在樣品室中的溫度和濕度。

詳細摘要： 水平模式熱膨脹儀 L76 PT可以測量以下的物理性質：熱膨脹系數(shù)，線性熱膨脹，物理熱膨脹，燒結溫度，相變，軟化點，熱分解溫度，玻璃化轉變溫度。

詳細摘要： 激光熱膨脹儀 L75 Laser與傳統(tǒng)的雙采樣頂桿熱膨脹儀不同，其測量原理是一種“測量" ，可提供更高的精度，且無須進行校準。

詳細摘要： 水平模式熱膨脹儀 L75PT HS/HD利用自動壓力控制設備，根據(jù)研究需要，接觸壓力可以連續(xù)地在10—1000mN調整。

詳細摘要： 高壓熱膨脹儀 L75 / High Pressure該系統(tǒng)可以在溫度從室溫到1100/1400/1800 ℃，并在該壓力達到100/150 bar的環(huán)境中測量的...

詳細摘要： 垂直模式熱膨脹儀 L75 PT VS/VD該系統(tǒng)可以用于單樣品或差示條件下測量以獲得更高的精度或樣品通量。

詳細摘要： L78 RITA熱膨脹相變儀是專為連續(xù)冷卻/加熱的CHT、CCT圖以及等溫線TTT-圖的繪制設計。

詳細摘要： 熱膨脹測定儀L78 RITA該儀器可在真空條件下，惰性、氧化、還原氣氛中進行測量，溫度范圍從150 ℃（低溫）到1000 ℃，或室溫到1600℃。

詳細摘要： 熱膨脹變形/相變測試儀 L78 RITA是特別適用于TTT、CHT和CCT曲線的測定。特殊感應爐體使加熱和冷卻速度超過2500 °C/s。