XUANCAI 落地式X射線衍射儀是研究物質內(nèi)部微觀結構的一種大型的高功率分析儀器，其專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計，外型美觀、易于操作、用戶友好、使用壽命長、智能化、檢測精度高，是材料研究、大學及研究院所、建筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫(yī)藥品和半導體等領域的理想分析工具。

主要應用：

定性相分析和定量相分析

晶體結構解析

晶體取向分析、金屬材料織構、殘余應力分析等

結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析、微區(qū)樣品的分析

非常規(guī)條件下晶體結構變化（高溫、低溫條件下）

薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

使用優(yōu)勢

應用場景