INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑，照射在樣品位置，從而獲得良好的空間分辨率及很強的熒光信號，通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價樣品被輻照后產(chǎn)生的熒光信號，得出樣品的成分信息。它可實現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析，是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣品以及微觀物體進行元素分析的理想方法。

INSIGHT 桌面式鍍層測厚儀是一款上照式鍍層分析儀，具有外觀緊湊、節(jié)約空間、易于操作、分析快速、檢測精準(zhǔn)等特點，被廣泛應(yīng)用于常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)的樣品進行元素分析和厚度檢測，尤其是對不均勻、不規(guī)則，甚至微小件等形態(tài)的樣品，確?？蛻臬@得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：珠寶首飾、小零件、連接器鍍層、普通電路板等。

使用優(yōu)勢