4060型探針臺是一款高效通用型6 - 8“（150 - 200mm）手動分析探針臺。 4060的設計易于在日常故障分析，器件特性分析和可靠性測試應用中使用。4060兼容了高效使用價值，準確的電氣和機械性能，是行業(yè)內(nèi)，穩(wěn)定和可靠的6/8英寸通用型探針臺。
4060可增配探針卡夾，熱卡盤，操縱器，*的探頭支架，隔振臺，不透光罩（LTE）和相機系統(tǒng)等附件選擇，可保證實現(xiàn)您特定的應用需求。臺體配置選項包括：一個獨立的顯微鏡升降和鎖定桿組件，可調節(jié)的臺面升降裝置，顯微鏡升降延遲以及支持低溫探測的集成暗干燥腔。
4060品質：
1. 手動絲杠控制臺體升降，壽命長，穩(wěn)定，快速
2. 提供絲杠控制探針卡定位
3. 絲杠驅動高分辨手動角度控制卡盤
4. 高穩(wěn)定性橋架支撐的高分辨率復合顯微鏡。 立體變焦顯微鏡可選。 包括快速升降平臺。 可調式顯微鏡升降延遲可選。 獨立的顯微鏡傾斜和鎖定標準。
5. 符合人體工程學的緊湊設計提高了使用的便利性，同時增加了穩(wěn)定性
6. 緊湊設計更省空間
7. 大面積鋁制平臺可放置更多探針座
8. 6英寸（150毫米）或8英寸（200毫米）環(huán)境真空吸盤，覆蓋完整的晶圓行程
9. 可選配冷/熱卡盤，包括內(nèi)部電纜/軟管處理組件，便于在探針臺后部和集成的黑暗/干燥環(huán)境
尺寸：
所占空間（寬x深）：22.75” x 23.35” (57.7x59.3cm).
臺體寬度，深度，高度：28.5” x 26.75” x 21.5” (72.3x67.9x54.6cm).
重量：86.6kg
暫無信息 |
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