功能豐富的高性能 SEM

Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，并且不會(huì)降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于*的透鏡內(nèi)背散射探測(cè)，這種探測(cè)提供的材料對(duì)比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過(guò)能量過(guò)濾進(jìn)一步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過(guò)濾。可選低真空模式，現(xiàn)在的樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa，可以對(duì)要求最嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。

通過(guò)這些優(yōu)勢(shì)（包括復(fù)合末級(jí)透鏡、高級(jí)探測(cè)和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對(duì)未來(lái)的研究難題。