上海林頻儀器股份有限公司
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詳細(xì)摘要： 【高低溫試驗箱】：http://www.linpin.com.cn構(gòu)造美觀.高效安全.用途廣泛高低溫試驗箱是汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電...
產(chǎn)品型號：LRHS-101B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 【低氣壓試驗箱】：http://www.linpin.com.cn低氣壓、仿真外太空環(huán)境氣候高低溫低氣壓試驗箱主要用于航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工...
產(chǎn)品型號：LRHS-102A-LF所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-225B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-225B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-225B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-225B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-101B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-101B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
產(chǎn)品型號：LRHS-101B-L所在地：上海市更新時間：2018-05-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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