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GEN3離子污染度測(cè)試儀

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GEN3離子污染度測(cè)試儀

詳細(xì)介紹

電子産品,材料(如PCB,元件等)在制程中會(huì)被環(huán)境,輔料中化學(xué)雜質(zhì)所污染, 這些雜質(zhì)中會(huì)帶有電離子成份，這些離子殘留在産品將會(huì)影響産品的可靠性。在潮濕的環(huán)境里，與産品通電運(yùn)作情況下,離子污染物將會(huì)有所變化, 電離子會(huì)按電極性在載體中遷移(又名Electro-Migration)與電極體(元件引腳, PCB上的導(dǎo)線?等)本身進(jìn)行化學(xué)作用, 引致電極體腐蝕,又或與其他份子結(jié)合從電極體生出金屬絲( Dendrite )***讓兩極相通"短路",降低了兩極間絕緣抗阻( SIR ), ***讓産品不能正常運(yùn)作, 嚴(yán)重的更會(huì)破壞電子產(chǎn)品
所以監(jiān)察離子污染的程度, 或清潔度來(lái)肯定產(chǎn)品的可靠性是非常重要的, 業(yè)界中離子污染度測(cè)試方法為ROSE/SEC, 電路板或零件浸入特定比例的異丙醇( IPA )與無(wú)離子水( De-Ionised Water)的混合測(cè)試溶濟(jì)中, 讓污染物溶解, 溶解的污染物會(huì)改變?nèi)軡?jì)的導(dǎo)電性，這改變將會(huì)被測(cè)量，然后再轉(zhuǎn)換成污染度單位( Eq. μg/sq.cm NaCl )作記錄, 判斷
CM系列清潔度測(cè)試儀在電子業(yè)上有很多用途：測(cè)試電路板（ PCB ）在制造流程或成品的清潔度、亦可方便用於PCBA生產(chǎn)流程中產(chǎn)品的清潔度, 檢查來(lái)料清潔度，及可評(píng)估不同焊接材料,條件對(duì)成品清潔度的影響。

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關(guān)鍵詞：電路板

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