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電鏡原位納米壓痕測(cè)試系統(tǒng)InSEM

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電鏡原位納米壓痕測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

InSEMHT（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度

詳細(xì)介紹

InSEM^®HT（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測(cè)量高溫下的硬度、模量和剛度。 InSEM HT與掃描電子顯微鏡

（SEM）和聚焦離子束（FIB）工作室，或獨(dú)立的真空工作室兼容。配有的InView軟件可幫助高級(jí)研究人員開(kāi)發(fā)新的實(shí)驗(yàn)?？茖W(xué)出

版文獻(xiàn)表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)的大規(guī)模高溫測(cè)試數(shù)據(jù)匹配良好。測(cè)試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點(diǎn)使InSEM HT成為材料

開(kāi)發(fā)研究計(jì)劃中很有價(jià)值的設(shè)備。

產(chǎn)品描述

InSEM HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。系統(tǒng)

溫度可高達(dá)800°C，因而可以模擬現(xiàn)場(chǎng)溫度條件，以獲得可靠一致的測(cè)試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過(guò)優(yōu)化，可用于

高溫測(cè)試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。

主要功能

InForce 50驅(qū)動(dòng)器，壓頭可加熱，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
樣品可升溫至800^°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng)
InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)
SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
與Windows^®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開(kāi)發(fā)功能