英國(guó)泰勒CCI SunStar非接觸式光學(xué)輪廓儀
CCI SunStar 面議污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
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產(chǎn)品型號(hào)METROTOM
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間：2022-11-26 17:17:33瀏覽次數(shù)：225次
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蔡司工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量?jī)x
Metrotomgraphy，融合了計(jì)量學(xué)和層析X射線攝影法，開(kāi)創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測(cè)或者根本不能進(jìn)行質(zhì)量保證檢測(cè)的場(chǎng)合，現(xiàn)在可以進(jìn)行高和無(wú)損測(cè)量。 斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測(cè)量：所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評(píng)估。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，例如：裝配檢查，損傷和氣孔分析，材料檢驗(yàn)或損壞檢查，如同測(cè)量評(píng)估、逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣可行。 重要特征 深思熟慮的設(shè)計(jì)
機(jī)器技術(shù)
微聚焦X射線管
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