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德國馬爾粗糙度輪廓儀MarSurf XCR 20

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更新時間：2023-05-27 15:14:17瀏覽次數(shù)：437次

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產(chǎn)品簡介

在測量站使用MarSurfXCR20測量粗糙度和輪廓這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量

詳細介紹

在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務(wù)，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。

節(jié)省空間型設(shè)計：兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和的分辨率
只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量

接觸速度（Z 方向）	0.1 至 1 mm/s
測桿長度	175 mm, 350 mm
測量速度（文本）	0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑	25
掃描長度末尾（X 方向）	200 mm
分辨率	Z 方向，相對探針針頭： 0.38 µm（350 mm 測桿）/ 0.19 µm（175 mm 測桿） Z 方向，相對測量系統(tǒng)： 0.04 µm
掃描長度開始（X 方向）	0.2 mm
取樣角	在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77°
定位速度（文本）	X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s Z 方向：0.2 至 10 mm/s
導(dǎo)塊偏差	< 1 µm（200 mm 以上）
測量原則	探針法
輸入	R 測頭，MFW 250 光學(xué)測頭 Focodyn、LS 1、LS 10* （*僅結(jié)合 PGK 或 GD 120 CNC 驅(qū)動裝置）
測量范圍 mm	(in Z) 50 mm MFW 250: ±25 µm，±250 µm，（ ±750 µm）；±1000 µin，±10,000 µin（ ±30,000 µm）
掃描長度（文本）	自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm，（.022 / .070 / .224 / .700 / 2.240 英寸），測量至擋塊，可變
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS	1 至 50（默認：5）
測量力 (N)	1 mN 至 120 mN 左右（可在 MarSurf XC 20 中設(shè)置）