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上海朝悉儀器儀表有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
產品型號堪培拉
品 牌
廠商性質其他
所 在 地
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更新時間：2023-01-14 09:09:09瀏覽次數：447次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線簡要描述：美國堪培拉canberra高純鍺（HPGe）γ能譜儀堪培拉提供較豐富γ譜儀系統(tǒng)主要應用領域：? 高分辨率γ譜學? 實驗室應用? 定時實驗? 符合/反符合系統(tǒng)? 反Compton系統(tǒng)? 無人值守操作&遠程控制
美國堪培拉canberra高純鍺（HPGe）γ能譜儀
CANBERRA的CosmicGuard™是任何新的或現(xiàn)有的高純鍺（HPGe）計數系統(tǒng)的簡單附件，其中包括Lynx數字信號分析儀和Genie 2000或Apex-Gamma光譜學軟件。獨立的防護探測器/電子模塊可直接安裝在直徑為50.8或55.9厘米（20或22英寸）的圓形蓋的鉛屏蔽上，或通過提升機構安裝在屏蔽臺上以便頂部打開或非圓形。該系統(tǒng)直接連接到HPGe檢測器的Lynx DSA和一臺控制的Genie或Apex®計算機 - 不需要NIM或其他電子設備.
描述
鍺探測器是具有pin結構的半導體二極管，其中本征（I）區(qū)域對電離輻射特別是x射線和γ射線敏感。在反向偏壓下，電場延伸穿過固有區(qū)或耗盡區(qū)。當光子與檢測器的耗盡體積內的材料相互作用時，會產生電荷載流子（空穴和電子），并被電場掃描到P和N電極。與入射光子在檢測器中沉積的能量成比例的這個電荷通過整體電荷敏感前置放大器轉換成電壓脈沖。
因為鍺具有相對較低的帶隙，所以必須冷卻這些檢測器以便將電荷載流子的熱生成（因此反向漏電流）降低到可接受的水平。否則，泄漏電流引起的噪聲破壞了鍺探測器的能量分辨率。溫度為77°K的液氮是這種檢測器的常用冷卻介質。鍺探測器安裝在真空室中，該真空室連接或插入LN2杜瓦瓶中。靈敏的探測器表面因此可以防止潮濕和可凝結的污染物。
美國堪培拉canberra高純鍺（HPGe）γ能譜儀探測器產品類別
標準電極同軸鍺檢測器（SEGe）
寬能型鍺探測器（BEGe）
反向電極同軸鍺檢測器（REGe）
擴展范圍同軸Ge檢測器（XtRa）
小陽極鍺探測器（SAGe井）
傳統(tǒng)的鍺探測器
低能量鍺探測器（LEGe）
超級LEGe探測器（GUL）
ACT-LC - HPGe探測器用于Act系統(tǒng)肺和全身計數器
鍺陣列檢測器
多種制冷方式：液氮制冷或電制冷
探測器類型
輻射類型
探測器類型
帶電粒子
γ射線
X射線
NaI（T1）閃爍探測器 - 標準尺寸為3 x 3英寸（7.6 x 7.6厘米）。請向工廠咨詢未列出的尺寸，包括Ge Compton抑制系統(tǒng)的環(huán)形空間。
PIPS ®帶電粒子檢測 -用于α-和/或β-帶電粒子分析崎嶇探測器整條生產線。
超低能量Ge探測器 - 光譜從0.3到300 keV。
低能量鍺探測器 - 低能量光子能譜儀，能量范圍為3至500千電子伏特。
廣泛的能量鍺探測器 - 從3 keV到3 MeV的高效率和分辨率。
同軸Ge探測器 - 40 keV至10 MeV的一般γ射線光譜
XtRa探測器 - 從3 keV到10 MeV的γ射線光譜。
反向電極Ge檢測器 - 抗輻射損傷 - 從3keV到10MeV的光譜學。
鍺和硅探測器 - 用于研究和定制應用。
Ge探測器 - 小樣本的計數效率接近4π。
Si（Li）探測器 - 用于X射線光譜學 - 30keV及以下。
陣列檢測器 - 用于EXAFS和同步加速器相關應用。
X-PIPS™探測器 - 珀耳帖冷卻硅X射線探測器 - 光譜從1到30keV。
系統(tǒng)主要組成部件（用戶可以根據具體應用需求靈活配置）：
● 高純鍺探測器：寬能鍺探測器、P型同軸鍺探測器、N型同軸鍺探測器、井形探測器、低能鍺探測器、平面鍺探測器；
● 低溫恒溫器：可選的常規(guī)液氮低溫恒溫器，液氮與電組合致冷的低溫恒溫器，電致冷低溫恒溫器；
● 一體化屏蔽室：低本底、超低本底鉛室；
● 多道分析器：數字化多道分析器、模擬多道分析器；
● 應用軟件： LabSOCS無源效率刻度軟件、Genie2000譜數據獲取和分析軟件、Apex高效運行和管理軟件；
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