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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>解決方案>> 半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案

半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案
  • 半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
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  • 品牌 廣電計量
  • 型號
  • 廠商性質 工程商
  • 所在地 廣州市
屬性

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更新時間:2024-11-06 08:54:49瀏覽次數:1640評價

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服務區(qū)域 全國 服務資質 CMA/CNAS
服務周期 常規(guī)檢測5-7個工作日 服務費用 視具體項目而定
廣電計量半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案經過在功率半導體器件方面數年積累,擁有研究進展,研究設備,為客戶提供半導體功率器件質量提升服務。

服務背景

廣電計量半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案,功率半導體器件在生產和使用過程中往往受到各種應力和環(huán)境因素的影響,達不到預期的壽命或功能,即發(fā)生失效現象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學科,在提高產品質量,技術開發(fā)、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

服務內容

一、半導體功率器件失效分析流程

1、失效信息背景調查,充分了解器件失效現象(不工作/導致上下端工作異常/異常引腳定鎖)、失效比例(偶然/集中一批)、使用環(huán)境(戶外/海邊/高海拔等)、失效發(fā)生階段(新產品/成熟產品)、工藝材料變更信息,這些都會有助于快速鎖定問題根源。

2、制定失效分析方案,根據提供背景信息結合技術經驗,制定有針對性的分析方案可以降低失效分析成本,加快失效分析進度,提高失效分析成功率。同時對各種可能的原因準備相應的處理措施。(制定的方案不會是一成不變的,實際分析項目會根據新發(fā)現的現象和分析結果及時調整)

3、通過各種非破壞、半破壞、破壞性試驗確定失效位置,這里需要高超的制樣技巧和設備精度,目的是限度地防止把被分析器件的真正失效因素、跡象丟失或引入新的失效因素,以期得到客觀的分析結論。

4、根據失效位置形貌、元素成份、物理結構,結合失效背景、技術經驗,推斷導致失效可能原因,并逐個排查最終找到失效根因形成邏輯閉環(huán)。

5、預防與改進措施建議,客戶往往忽略這一點,根據失效原因進行重現及提出改進措施(更優(yōu)原材料、優(yōu)化工藝參數、器件結構改進、更合理的測試方法及條件、更嚴格的質量監(jiān)控等)最終關閉此問題點。

二、功率半導體器件失效分析常見測試內容

1、電學性能:IF、URIR,VSD、IDSSBVDSS、IGSSVGSTH)、RDSON)、VDSON),RG、CIES、COESTdON)、TrTdOFF)、Tf、EON、EOFF、TrrQrr、Irrm、QG,Rthj-c)等靜態(tài)、動態(tài)參數

2、塑封料:注塑工藝評價、缺陷查找、膠水基材種類、有無污染物、氣泡,氣密性評估、膠水耐熱性、ESD元素分析、FTIR紅外光譜分析

3、粘結料涂覆及固晶制程:粘結料涂覆工藝評價、缺陷查找、成份分析、空洞率、厚度,固晶工藝評價、頂針痕、吸嘴印、芯片平整度、污染物檢測、鈍化層損傷

4、芯片:工藝觀察、清潔度檢查、耐壓環(huán)及元胞微觀結構測量、缺陷定位、缺陷暴露、抗靜電能力檢測

5、引線鍵合:工藝評價、一焊和二焊形貌觀測、鍵合接觸面微觀形貌觀測、鍵合IMC健康檢測、弧形弧高測量、鍵合線直徑測量、成份鑒定、PAD成份結構觀測

6、引線框架:引線框架(含DBC等各種材質)涂鍍層厚度測量、成份檢測、工藝評價、缺陷查找、變色變粗糙等老化原因分析。

我們的優(yōu)勢

廣電計量半導體功率器件質量提升,失效分析解決方案經過在功率半導體器件方面數年積累,形成了博士7人、碩士13人的專業(yè)人才團隊,各方面研究方向同步業(yè)內研究進展,研究設備均為業(yè)內多套設備(靜態(tài)/動態(tài)參數測試:B1505A、B1506ASW8200A等,物理分析:T3Ster、DB FIB、FE SEM、InGaAs、ORBICHThermal Emmi等)??梢詮牟牧辖嵌?、工藝制程角度、使用存儲環(huán)境角度查找缺陷,定位失效點,從而找出失效的原因,并針對失效原因提出可行的改善建議。通過承接大量客戶新產品驗證、AEC-Q車規(guī)認證等各種可靠性試驗后器件失效案例分析,積累了豐富的各種應力導致的失效模式、失效機理數據庫材料,同時積累了豐富的器件結構經驗、熟練的制樣經驗,可以快速準確為您判定失效根因。



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