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深圳九州工業(yè)品有限公司
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BLUEWAVE美國microtrac粒徑分析儀
| 參考價: | ￥ 5000 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- BLUEWAVE 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：293更新時間：2024-11-06 10:43:10
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|
性能指標(biāo)
1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器（非LED）
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
產(chǎn)品介紹
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標(biāo)
1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器（非LED）
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用藍(lán)激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求
美國microtrac粒徑分析儀BLUEWAVE
性能指標(biāo)
1.三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.真藍(lán)光激光器（非LED）
3.分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正Mie計算的算法
4.測量范圍從0.01到2800微米
5.干濕測量
6.封閉的光路可確保對光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù)，幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用藍(lán)激光，低端范圍測量的分辨率得以提高，從而顯著提高了低于1微米的測量精度。
2.專有的修正Mie理論計算使用戶能夠準(zhǔn)確測量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測量的非球形顆粒
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間
4.固定的撿測器可提供堅固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置
5.小巧的占用面積減少了對寶貴實驗室空間的需求
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