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CPS納米粒度分析儀

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CPS納米粒度分析儀CPS納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀

詳細(xì)介紹

CPS納米粒度分析儀

CPS納米粒度分析儀是一臺(tái)穩(wěn)定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測(cè)量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質(zhì)里分離開。顆粒在的沉降穩(wěn)定過程是由于液體介質(zhì)中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。

CPS納米粒度分析儀，有別于傳統(tǒng)方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細(xì)區(qū)分提供新的解決方案

這種原理有以下幾點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

分辨率高：

同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對(duì)于只有 1%的顆粒差異分布的時(shí)候，該方法測(cè)定的結(jié)果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。

靈敏度高：

低至 10^-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。

重復(fù)性高：

樣品結(jié)果在95%的典型置信度下，連續(xù)重復(fù)分析峰的重復(fù)性小于+/-1% 或更好。

快速、高精度數(shù)模(A/D)轉(zhuǎn)換:

可用信號(hào)分辨率（即軟件操作的對(duì)象）決定于數(shù)模轉(zhuǎn)換的過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模轉(zhuǎn)換可以實(shí)現(xiàn)在每秒31次取樣時(shí)保持20位以上的精度，幾百萬分之一的誤差。

CPS高精度納米粒度儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CPS納米粒度分析儀?分辨率很高，它有效地結(jié)合了高速離心沉降（24000轉(zhuǎn)/分）和激光法的優(yōu)點(diǎn)，使得整個(gè)儀器能夠達(dá)到的分辨率，優(yōu)良的靈敏度和重復(fù)性.

同激光散射和顆粒計(jì)數(shù)法比較，該方法有非常高的分辨率，能夠輕松鑒別雜質(zhì)顆粒，污染顆?；蛘咄鈦眍w粒。半峰寬為峰值粒度 1%，也就是說對(duì)于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個(gè)粒度峰，該儀器都可以有效地檢測(cè)并區(qū)分開來。儀器的分辨率如此高，得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響，測(cè)量最終得到的是真實(shí)、可靠的顆粒分布。