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更新時(shí)間：2023-11-14 12:56:42瀏覽次數(shù)：230次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線簡(jiǎn)介TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有高達(dá)1MHz測(cè)試頻率的新型電容測(cè)量?jī)x，體積小，緊湊便攜，便于上架使用
簡(jiǎn)介
TH2638系列高速精密電容測(cè)量?jī)x是具有高達(dá)1MHz測(cè)試頻率的新型電容測(cè)量?jī)x，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面，操作方便快捷。
TH2638系列測(cè)量電容基本精度為±0.07%，損耗精度高達(dá)0.0005，速度高達(dá)2.3ms;超寬的量程配置，使得TH2638系列能夠精確測(cè)量從低值到高值的各類電容;超寬的輸出阻抗范圍和信號(hào)電平補(bǔ)償功能，特別適合于用穩(wěn)定的測(cè)試電平高速高精度測(cè)試陶瓷電容器;世界的三參數(shù)(Cs-RsLs)測(cè)試功能解決了新能源汽車用DC-Link薄膜電容器串聯(lián)等效電感ESL的測(cè)試難題。
TH2638系列兼容SCPI命令集;有機(jī)械手接口和料箱分類功能，適合生產(chǎn)線高速測(cè)試產(chǎn)品的自動(dòng)分類;最多256個(gè)掃描通道的掃描器接口，大大提高生產(chǎn)效率;不良接觸的檢查功能大大減低了生產(chǎn)線快速測(cè)試時(shí)的誤判率;當(dāng)測(cè)試頻率為1MHz時(shí)，頻率偏移設(shè)置功能（1MHz±1%，1MHz±2%）可消除陣列式電容器測(cè)試系統(tǒng)中相鄰測(cè)量終端的干擾，并降低測(cè)量結(jié)果的波動(dòng)。
可以根據(jù)不同尺寸的DC-Link薄膜電容器為客戶定制相應(yīng)的測(cè)試夾具。
1.高速度,高精度,高一致性
測(cè)試速度：2.3ms(100kHz/1MHz),3.0ms(1kHz/10kHz/40kHz),11.0ms(120/100Hz)
電容測(cè)試精度：±0.07%，
損耗因素：±0.0005
測(cè)試速度和量程的設(shè)置,解決了以下幾個(gè)問(wèn)題
1.高速測(cè)試下精度及無(wú)法得到保證
2.測(cè)量?jī)x器無(wú)法滿足高吞吐率自動(dòng)化設(shè)備的測(cè)試要求
3.在滿足了測(cè)試速度的情況下，多次測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性不好
應(yīng)用
■ 電解電容器高速高精度測(cè)試
■ 陶瓷電容器高速高精度測(cè)試
■ 薄膜電容器高速高精度測(cè)試
■ 各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試
■ 高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試
■ 半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試
| 型號(hào) | TH2638 | TH2638A | TH2638B | TH2638C | |
| 測(cè)試信號(hào)參數(shù) | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs- D, Cs-Q, Cs-Rs | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs- D, Cs-Q, Cs-Rs, Cs-Rs-Ls | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs | ||
| 測(cè)試信號(hào) | |||||
| 頻率 | 允許頻率 | TH2638:100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±2% TH2638A:100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,40kHz,100kHz TH2638B:100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz TH2638C:100Hz,120Hz, 1kHz | |||
| 精度 | ±0.02% | ||||
| 電平 | 范圍 | 0.1V-1V | |||
| 分辨率 | 0.001V | ||||
| 精度 | ±5% | ||||
| 輸出方式 | 連續(xù)或同步 | ||||
| 信號(hào)源延時(shí) | 范圍 | 0-1s | |||
| 分辨率 | 0.1ms | ||||
| 輸出阻抗 | 100Hz 120Hz | SLC OFF ≥220μF 量程 1.5 Ω ≥220μF 量程 0.3 Ω SLC ON 10nF - 100μF 量程 10 Ω | |||
| 1kHz | SLC OFF ≥22μF 量程 1.5Ω ≥22μF 量程 0.3Ω SLC ON 220nF - 10μF 量程 0.3Ω 100pF - 100nF 量程 10Ω | ||||
| 10kHz | ≥2.2μF 量程 1.5 Ω 100pF - 1μF 量程 10 Ω | ------ | |||
| 40kHz | ------ | ------ | ------ | ||
| 100kHz | 10 Ω | ------ | ------ | ||
| 1MHz | 10 Ω | ------ | ------ | ||
| 測(cè)試速度 | 五檔測(cè)試速度選擇：1，2，4，6，8 | ||||
| 測(cè)量速度 | 100Hz/120Hz | 11ms | |||
| 1kHz/10kHz | 3.3ms | ||||
| 40kHz | ------ | ------ | ------ | ||
| 100kHz | 2.5ms | ------ | ------ | ||
| 1MHz | 2.3ms | ------ | ------ | ||
| 測(cè)試量程方式 | 自動(dòng)、保持 | ||||
| 測(cè)試信號(hào)頻率量程 | 100Hz/120Hz | 10nF, 22nF, 47nF, 100nF, 220nF, 470nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF, 22μF, 47μF, 100μF, 220μF, 470μF, 1 mF | |||
| 1kHz | 100pF, 220pF, 470pF, 1nF , 2.2nF, 4.7nF, 10nF, 22nF, 47nF, 100nF, 220nF ,470nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF, 22μF, 47μF, 100μF | ||||
| 10kHz | 100pF, 220pF, 470pF, 1nF, 2.2nF, 4.7nF, 10nF, 22nF, 47nF, 100nF, 220nF, 470nF,1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF | ||||
| 40kHz |
470pF,1nF, 2.2nF, 4.7nF,10nF, ------ 22nF, 47nF,100nF, 220nF, 470nF, 1μF, 2.2μF | ------ | ------ | ||
| 100kHz | 10pF, 22pF, 47pF,100pF, 220pF, 470pF,1nF, 2.2nF, 4.7nF,10nF, 22nF, 47nF,100nF, 200nF, 470nF, 1mF | ------ | ------ | ||
| 1MHz |
------ 47pF, 100pF, 220pF, 470pF, 1nF | ------ | ------ | ||
| 平均次數(shù) | 1 - 256 | ||||
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