恒電位儀 單電位階躍計(jì)時(shí)電流法（I-T）
循環(huán)伏安法（CV) 多電位階躍計(jì)時(shí)電流法（I-T）
線性掃描伏安法(LSV) 單電位階躍計(jì)時(shí)電量法（Q-T）
階梯伏安法(SCV) 多電位階躍計(jì)時(shí)電量法（Q-T）
Tafel圖(TAFEL) 線性掃描溶出伏安法(SCV)
計(jì)時(shí)電流法(CA) 階梯溶出伏安法(SCV)
計(jì)時(shí)電量法(CC) 方波溶出伏安法(SWV)
差示脈沖伏安法（DPV） 差示脈沖溶出伏安法（DPV）
常規(guī)脈沖伏安法(NPV) 階梯循環(huán)伏安法(SCV)
方波伏安法(SWV) 線性掃描循環(huán)伏安法(CV)
差示常規(guī)脈沖伏安法 差示脈沖循環(huán)伏安法（DPV）
恒電位電解電流-時(shí)間曲線（I-T） 恒電位溶出電流-時(shí)間曲線（I-T）
恒電位電解電量-時(shí)間曲線（Q-T） 恒電位溶出電量-時(shí)間曲線（Q-T）
恒電位測(cè)量范圍：±12.8V D/A轉(zhuǎn)換速率18bit
恒電流測(cè)流范圍:±250mA A/D轉(zhuǎn)換速率24bit
電流測(cè)量分辨率﹤0.01pA CV 和LSV掃描速度0.01～10000mV/s
槽壓：±30V 電位掃描時(shí)電位增量：0.1mV@200mV/mS
靈敏度:1╳10-14A DPV和NPV脈沖寬度2～5000ms
電位上升時(shí)間﹤1微秒 SWV頻率1～100KHz
采樣間隔：0.0001-100000s 電位更新速率：5MHz
掃描速度：0.01mV/S---5000V/S 自動(dòng)和手動(dòng)電流、電位零位調(diào)整
方波頻率：0.001Hz---100kHz 電位和電流測(cè)量低通濾波器，自動(dòng)設(shè)置

RST-3000電化學(xué)工作站是集電化學(xué)分析方法于一體的電化學(xué)通用儀器。該儀器能完成線性掃描，循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安、溶出伏安等電化學(xué)分析方法；還可以完成恒電位極化、恒電位方波，恒電位階躍等多項(xiàng)電化學(xué)測(cè)試功能。RST-3000電化學(xué)工作站數(shù)據(jù)采集與數(shù)據(jù)處理的軟件是基于Windows XP操作系統(tǒng)的軟件，用戶界面遵守Windows軟件的設(shè)計(jì)規(guī)則，容易安裝和使用。系統(tǒng)軟件為方便使用者提供了強(qiáng)大的功能，包括文件管理、全面的實(shí)驗(yàn)控制、靈活的圖形顯示、方便的圖形放大和還原、位圖圖形和數(shù)據(jù)的導(dǎo)出，多種數(shù)據(jù)處理功能、數(shù)據(jù)的存貯與打印等。系統(tǒng)軟件具有良好的用戶界面，命令行參數(shù)所用的電化學(xué)理論和方法都盡可能采用zui為通用的電化學(xué)術(shù)語(yǔ)，全中文菜單和界面，方便的峰測(cè)量和疊加，準(zhǔn)確的定量分析，更為方便地為教學(xué)和科研服務(wù)。
RST-3000電化學(xué)工作站可用于精密的電化學(xué)定性、定量分析以及電極電化學(xué)行為研究測(cè)試。儀器由數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和恒電位儀/恒電流儀組成,電流/電位同步數(shù)據(jù)采集。儀器的槽壓為±15V。電壓控制范圍：±12.8V，電流控制范圍：±250mA電流測(cè)量下限低于0.01pA。
軟件能實(shí)現(xiàn)圖形和數(shù)據(jù)同步顯示。系統(tǒng)可對(duì)測(cè)試曲線進(jìn)行數(shù)字平滑，能對(duì)極化曲線進(jìn)行電化學(xué)參數(shù)解析，設(shè)備安裝簡(jiǎn)單，即插即用。用戶可以使用筆記本電腦或臺(tái)式機(jī)控制。
RST-3000系列產(chǎn)品全部由高品質(zhì)CMOS和BiFET®集成電路組成，具有控制精度高、響應(yīng)速度快、性能穩(wěn)定、結(jié)構(gòu)緊湊、自動(dòng)化程度高的特點(diǎn)，該儀器可*由微機(jī)控制來(lái)進(jìn)行電化學(xué)方法測(cè)量，因此適用于高?？蒲信c教學(xué)實(shí)驗(yàn)使用。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：
1． 電化學(xué)機(jī)理研究。
2． 對(duì)電極進(jìn)行測(cè)量及定量分析。
3． 用微電極進(jìn)行定量分析。
4． 納米結(jié)構(gòu)的生成。
5． 常規(guī)電化學(xué)測(cè)試。