概述：
T-I-L系列溫度沖擊測(cè)試箱根據(jù)用戶要求而特別設(shè)計(jì)制造的大型非標(biāo)準(zhǔn)耐氣候模擬試驗(yàn)設(shè)備，主要模擬環(huán)境高低溫度變化，提供一種冷熱沖擊溫度變化環(huán)境，檢驗(yàn)試件的溫度應(yīng)力變化狀況，試件的老化試驗(yàn)及試件的可靠性試驗(yàn)。

詳細(xì)介紹

概述：

T-I-L系列溫度沖擊測(cè)試箱根據(jù)用戶要求而特別設(shè)計(jì)制造的大型非標(biāo)準(zhǔn)耐氣候模擬試驗(yàn)設(shè)備，主要模擬環(huán)境高低溫度變化，提供一種冷熱沖擊溫度變化環(huán)境，檢驗(yàn)試件的溫度應(yīng)力變化狀況，試件的老化試驗(yàn)及試件的可靠性試驗(yàn)。

溫度沖擊試驗(yàn)箱箱體采用拼塊式人性化的設(shè)計(jì)，充分考慮用戶試驗(yàn)的方便性。試驗(yàn)箱可在指標(biāo)范圍內(nèi)任意調(diào)節(jié)溫度，以滿足用戶使用時(shí)對(duì)溫度的不同要求。模塊化的設(shè)計(jì)有效降低試驗(yàn)箱震動(dòng)和噪音，充分保障試驗(yàn)箱試驗(yàn)的可靠性。同時(shí)，其*性還表現(xiàn)在特殊的風(fēng)道設(shè)計(jì)上，融合多年制造經(jīng)驗(yàn)所研制出的合理的風(fēng)道結(jié)構(gòu)，解決了大型試驗(yàn)設(shè)備溫度波動(dòng)度大、溫度均勻度差等技術(shù)難題。

T-I-L系列溫度沖擊測(cè)試箱具有以下優(yōu)點(diǎn)：

A、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單合理，制造工藝規(guī)范，后期運(yùn)行故障低；

B、核心部件全部采用進(jìn)口品牌，性能穩(wěn)定可靠；

C、操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，人性化交流界面；

D、高標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，售后無憂。

標(biāo)準(zhǔn)型-技術(shù)方案由以下部分組成：

*部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分

第二部分：結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)-構(gòu)造結(jié)構(gòu)材質(zhì)部分

第三部分：測(cè)控系統(tǒng)-測(cè)控方式控制部分

第四部分：安全保護(hù)-安全保護(hù)控制部分

第五部分：售后服務(wù)-售后服務(wù)承諾部分

第六部分：配置清單-主要配置清單部分

*部分：技術(shù)參數(shù)-滿足性能指標(biāo)部分

1. 設(shè)備型號(hào)名稱：T-I-L（溫度沖擊測(cè)試箱）；

2. 工作室尺寸：700X800X900mm （深X寬X高）；

3. 溫度范圍：-70℃～＋180℃；

4. 沖擊范圍：-55℃～＋100℃；

5. 低溫室范圍：-70℃～-10℃；

6. 降溫速率：+20～-60℃≤60 min；

7. 高溫室范圍：60℃～＋180℃；

8. 升溫速率：+20～150℃≤30 min；

9. 溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃；

10. 溫度均勻度：≤3℃；

11. 轉(zhuǎn)換恢復(fù)時(shí)間：≤5 S/≤5 min；

12. 溫度恢復(fù)條件：高溫+150℃ 暴露30min；低溫-40℃ 暴露30min；

13. 溫度沖擊方式：由*控制器自動(dòng)控制氣缸門在低溫箱或高溫箱之間轉(zhuǎn)換運(yùn)動(dòng)，分別與高溫箱或低溫箱形成閉路空氣循環(huán)系統(tǒng)，迅速達(dá)到試驗(yàn)的目標(biāo)溫度；

14. 控制方式：編程/定值運(yùn)行；

15. 電源功率：AC 380V/50Hz ±10%，20.0Kw；

16. 安裝環(huán)境：設(shè)備周圍無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾、無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)、無易燃易爆物品、無陽光直接照射或其它熱源直接輻射，設(shè)備應(yīng)水平放置于通風(fēng)良好的試驗(yàn)室內(nèi)，周圍應(yīng)留有充足的空間供操作及維護(hù)之用；

17. 考核環(huán)境：在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下滿足室溫≤25℃，相對(duì)濕度≤85%R.H，工作室空載，恒定兩小時(shí)。

關(guān)鍵詞：試驗(yàn)箱

其他推薦產(chǎn)品更多>>